特許
J-GLOBAL ID：200903070751593078
スポット溶接のナゲット径測定方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
佐々木 宗治 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-331364
公開番号（公開出願番号）：特開平7-185832
出願日： 1993年12月27日
公開日（公表日）： 1995年07月25日
要約：
【要約】【目的】 スポット溶接のナゲット径を高精度に測定できる実用的な非破壊測定方法とする。【構成】 スポット溶接部10を溶接直後の一定期間中赤外線カメラ1にて連続的に撮影し、該溶接部周辺の室温より一定温度高い領域11を画像処理して画像径を求め、さらにその径の時間についての微分値を求め、該微分値が変化する変曲点Aにおける画像スポット径を求め、あらかじめ実験により求めておいた画像スポット径とナゲット径の関係を示す校正表と参照して、その画像スポット径に対応するナゲット径を求める。
請求項（抜粋）：
スポット溶接部を溶接直後の一定期間中、赤外線カメラにて連続的に撮影し、その都度、前記スポット溶接部の周辺の特定高温域を画像処理し、その画像処理による前記特定高温域の画像形状の径を求め、前記画像形状の径の時間についての微分値を算出し、前記微分値が変化する変曲点における画像スポット径を求め、あらかじめ実験により求めておいた校正表に基づいて前記画像スポット径に対応するナゲット径を求めることからなるスポット溶接のナゲット径測定方法。
IPC (4件)：
B23K 11/24 338
, G01B 11/08
, G01J 5/48
, G01N 21/88
