特許
J-GLOBAL ID：200903070770124399
試験ルート選定方法及び装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
茂泉 修司
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-282552
公開番号（公開出願番号）：特開2000-112786
出願日： 1998年10月05日
公開日（公表日）： 2000年04月21日
要約：
【要約】【課題】与えられた状態遷移の組み合わせから成る仕様から、合流状態やループ状態を解消したツリーに変換するとともに適切な試験ルートを効率良く選定する方法及び装置を提供する。【解決手段】状態遷移データから状態遷移の重みを付けたツリー状状態遷移データを生成し、該ツリー状状態遷移データから試験ルートを抽出し、複数の該試験ルートについて該重みの平均値を求め、該平均値が最大となる試験ルートを選出し、該選出した試験ルートに含まれる該重みを1単位分減じる処理を繰り返すことにより各試験ルート間の優先順位を求める。
請求項（抜粋）：
状態遷移データから状態遷移の重みを付けたツリー状状態遷移データを生成する第1ステップと、該ツリー状状態遷移データから試験ルートを抽出する第2ステップと、複数の該試験ルートについて該重みの平均値を求め、該平均値が最大となる試験ルートを選出し、該選出した試験ルートに含まれる該重みを1 単位分減じる処理を繰り返すことにより各試験ルート間の優先順位を求める第3ステップと、を備えたことを特徴とする試験ルート選定方法。
Fターム (4件)：
5B042GA09
, 5B042GB09
, 5B042HH17
, 5B042HH18
