特許

J-GLOBAL ID：200903070778768554

調整検査用光ディスク

発明者： 中村 裕行 ,  橋本 哲文
出願人/特許権者： 松下電器産業株式会社
代理人 (1件)： 滝本 智之 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-113443
公開番号（公開出願番号）：特開平9-297939
出願日： 1996年05月08日
公開日（公表日）： 1997年11月18日
要約：

【要約】【課題】 2種類の基板厚の光ディスクに対して光学的に情報の記録再生が可能な光ピックアップを製造工程で調整検査する場合、2種類のディスクを用いる必要があるため、調整検査工数、設備費用等が多くかかる。【解決手段】 片側に情報トラック5を有する第1の透明基板4の情報トラック側に反射膜を形成した光ディスクと、片側に情報トラック2を有する第2の透明基板1の情報トラック側にハーフミラー膜3を形成した光ディスクとを、第2の透明基板1、ハーフミラー膜3、第1の透明基板4、反射膜6の順に貼り合わせたディスクを調整検査ディスクとして用いる。

請求項（抜粋）：

片側に情報トラックを有する第1の透明基板の情報トラック側に反射膜を形成した光ディスクと、片側に情報トラックを有する第2の透明基板の情報トラック側にハーフミラー膜を形成した光ディスクとを、少なくとも第2の透明基板、ハーフミラー膜、第1の透明基板、反射膜の順に貼り合わせたことを特徴とする光ピックアップの調整検査用光ディスク。

IPC (3件)：

G11B 7/26 ,  G11B 7/00 ,  G11B 7/22

FI (3件)：

G11B 7/26 ,  G11B 7/00 Z ,  G11B 7/22