特許
J-GLOBAL ID：200903070780534765
測距装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
鈴江 武彦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-147871
公開番号（公開出願番号）：特開平7-013068
出願日： 1993年06月18日
公開日（公表日）： 1995年01月17日
要約：
【要約】【目的】本発明は、測距時間の短時間化を図り、廉価かつ高精度の多点測距を実現する測距装置を提供することを目的とする。【構成】本発明は、全体を制御する演算制御部(CPU)1の制御により、測距部2で得られた測距値に基づきピント合せ部3を駆動し、撮影レンズ9のピント合わせ、演算制御部(CPU)1の制御により、ピントが合った時の焦点距離fを基に、スキャンピッチ変更部4を介してスキャン用アクチュエータ5によりスキャン機構部6を駆動させ、複数の測距ポイント13を所望する効率的な位置に配置する測距装置である。
請求項（抜粋）：
複数のポイントに向けて順次投光可能な投光手段と、前記ポイントからの前記投光に基づく反射光を受光し、光電変換信号を出力する受光手段と、前記光電変換信号に基づいて、前記ポイント毎の測距を検出する距離検出手段と、この距離検出手段によって検出された前記距離に基づいて、前記投光手段による投光ピッチを決定する投光ピッチ決定手段と、この投光ピッチ決定手段によって決定された前記投光ピッチに基づいて前記投光手段の投光方向を制御する制御手段と、を具備することを特徴とする測距装置。
IPC (3件)：
G02B 7/32
, G01C 3/06
, G03B 13/36
