特許
J-GLOBAL ID:200903070792328702

材料の選択方法および材料の開発・選択支援システム

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 尾身 祐助
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2001-161789
公開番号(公開出願番号):特開2002-350327
出願日: 2001年05月30日
公開日(公表日): 2002年12月04日
要約:
【要約】【課題】 電子部品開発者が、専門的知識を必要とせずに、電子部品の必要熱疲労寿命を満たす部品材料を選択し、新規部品材料の開発指針を得ることができる電子部品材料の選択方法およびその開発・選択支援システムを提供する。【解決手段】 電子部品1の温度サイクル試験を行い(S1)、その試験結果データ3を格納しておく。部品1の材料物性データを含む部品基礎データ2を用いて、温度サイクル試験を模擬した熱応力解析を行い(S2)、試験結果データ4と解析結果データ3の相関式を回帰分析によって求める(S3)。その相関式によって、電子部品の必要熱疲労寿命を満たす限界解析値を求め(S4)、その限界解析値を満たす材料物性間の条件式を分散分析によって求める(S5)。そして、電子部品材料物性間の条件式を集めたデータベースと、様々な電子部品材料の物性値を記録したデータベースと、コンピュータ端末間をネットワーク(インターネット等)で結んだ電子部品材料の選択支援システムを構築する。
請求項(抜粋):
材料の熱疲労寿命測定実験結果とその測定実験を模擬した熱応力解析結果とから、材料の必要熱疲労寿命を満たすために必要な限界解析値を求める過程と、前記限界解析値を満たす材料物性間の条件式を求める過程と、候補となる材料の諸物性が前記条件式を満たしているかを検証する過程と、を含むことを特徴とする材料の選択方法。
IPC (2件):
G01N 17/00 ,  G01N 3/32
FI (2件):
G01N 17/00 ,  G01N 3/32 A
Fターム (13件):
2G050BA10 ,  2G050DA03 ,  2G050EA01 ,  2G050EC10 ,  2G061AB05 ,  2G061AC03 ,  2G061AC09 ,  2G061BA04 ,  2G061BA07 ,  2G061CB16 ,  2G061DA11 ,  2G061EA02 ,  2G061EC02

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