特許
J-GLOBAL ID：200903070819016635

光ファイバセンサを用いた材料の損傷評価方法及び装置

発明者：
津田 浩

津田 浩 について

, 
高坪 純治

高坪 純治 について

, 
飯島 高志

飯島 高志 について


出願人/特許権者：
独立行政法人産業技術総合研究所

独立行政法人産業技術総合研究所 について


公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-021254
公開番号（公開出願番号）：特開2003-222571
出願日： 2002年01月30日
公開日（公表日）： 2003年08月08日
要約：
【要約】【課題】 材料の損傷の発生と状況、及び歪を評価する材料の損傷評価方法及び評価装置を実現する。【解決手段】 FBGセンサ10、10’を被検体2に取り付け、広帯域光源5から広帯域波長光を入力させ、特定の波長を有する光信号を反射させ、この反射光をFBGセンサと同じ光弾性定数、及び格子間隔を有するFBGを書き込んだ光ファイバを用いて処理し、弾性波放出にともない発生する高周波信号のみを光電変換器14、14’により電気信号に変換し、被検体2の損傷発生状況を調べるとともに、超音波発生素子8から超音波を発生させ、そのときに得られるFBGセンサ10、10’からの出力にフィルタ処理を施し、その波形から材料の損傷状況を調べる。
請求項（抜粋）：
FBGを書き込んだ光ファイバであるFBGセンサを被検体に取り付け、該FBGセンサに広帯域波長光を入力し、該FBGセンサから特定の波長を有する光信号のみを反射させ、該反射光を、上記FBGセンサと同じ光弾性定数及び格子間隔を有するFBGを書き込んだ光ファイバであるFBGフィルタを用いてフィルタ処理し、上記被検体の損傷発生に伴う弾性波放出で発生する高周波信号のみを光電変換器により電気信号に変換し、該電気信号から上記被検体の損傷発生状況を調べることを特徴とする光ファイバセンサを用いた材料の損傷評価方法。
IPC (5件)：
G01M 11/00 ,  G01B 11/16 ,  G01B 17/04 ,  G01D 5/26 ,  G01L 1/24
FI (6件)：
G01M 11/00 U ,  G01M 11/00 R ,  G01B 11/16 Z ,  G01B 17/04 ,  G01D 5/26 D ,  G01L 1/24 A
Fターム (33件)：
2F065AA01 ,  2F065AA49 ,  2F065AA60 ,  2F065AA65 ,  2F065BB05 ,  2F065DD04 ,  2F065FF32 ,  2F065FF41 ,  2F065FF49 ,  2F065GG21 ,  2F065JJ00 ,  2F065JJ05 ,  2F065LL02 ,  2F065LL22 ,  2F065LL41 ,  2F065LL67 ,  2F065PP22 ,  2F065QQ25 ,  2F068AA48 ,  2F068KK00 ,  2F068TT01 ,  2F103BA10 ,  2F103BA41 ,  2F103CA06 ,  2F103CA09 ,  2F103EB08 ,  2F103EB16 ,  2F103EC09 ,  2F103EC10 ,  2F103EC16 ,  2F103GA15 ,  2G086CC05 ,  2G086DD05
引用特許：
審査官引用 (3件)

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