特許
J-GLOBAL ID:200903070824709347

表面実装型電子部品の特性検査装置

発明者:
出願人/特許権者:
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-197557
公開番号(公開出願番号):特開2001-021603
出願日: 1999年07月12日
公開日(公表日): 2001年01月26日
要約:
【要約】【課題】 単純な動作でワークを安全に装着することができる比較的安価な特性検査装置を提供する。【解決手段】 電極2aを有する表面実装型電子部品2を収納する収納凹部3と、収納凹部3の底面に対して垂直方向に移動可能に取り付けられ、表面実装型電子部品2の電極2aに接触するプローブ5とを設け、表面実装型電子部品2の固定保持と電気的接続をそれぞれ独立した機構により行う。
請求項(抜粋):
電極を有する表面実装型電子部品を収納する収納凹部と、上記収納凹部の底面に対して垂直方向に移動可能に取り付けられ、上記表面実装型電子部品の電極に接触するプローブと、上記プローブに接続された測定回路とを備える表面実装型電子部品の特性検査装置。
IPC (3件):
G01R 31/00 ,  G01R 1/06 ,  G01R 31/28
FI (3件):
G01R 31/00 ,  G01R 1/06 E ,  G01R 31/28 K
Fターム (12件):
2G011AA16 ,  2G011AB01 ,  2G011AE22 ,  2G011AF07 ,  2G032AA00 ,  2G032AB02 ,  2G032AE02 ,  2G032AE03 ,  2G032AF02 ,  2G036BB22 ,  2G036CA02 ,  2G036CA12

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