特許
J-GLOBAL ID:200903070828512459
表示パネルの欠陥検査装置
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
梅田 勝
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平9-283513
公開番号(公開出願番号):特開平11-119684
出願日: 1997年10月16日
公開日(公表日): 1999年04月30日
要約:
【要約】【課題】 撮像画面全体の明るさが均一ではなく、輝度の傾きおよびばらつきを有し、かつ干渉縞が存在する画像状態であっても、微量な輝度差の輝点欠陥と黒点欠陥とを正確に検出する表示パネルの欠陥検査装置を提供する。【解決手段】 液晶パネル点灯制御部2は、液晶パネル10を点灯し、バックライト1とで点灯手段を構成する。CCDアレイカメラ3は、液晶パネル10の表示画面を撮像し、その表示画面を画像メモリ4に記録する。CCDアレイカメラ3と画像メモリ4とで撮像手段を構成する。差分処理部5は、画像メモリ4に記録された画像に対して、欠陥検出制御部6の制御に応じた差分処理を行う。欠陥検出制御部6は、液晶パネル点灯制御部2と差分処理部5とを制御し、液晶パネル10の画面の欠陥を検出する。モニタ7は、CCDアレイカメラ3にて撮像された液晶パネル10の表示画面の映像を表示し、データ入力部8は、画面に生じた干渉縞の間隔データを入力する。
請求項(抜粋):
表示パネルを点灯させる点灯手段と、前記表示パネルの画面を撮像する撮像手段と、前記撮像手段にて前記表示パネルの画面を撮像した際に生じた干渉縞の間隔データを入力するためのデータ入力手段と、撮像された前記表示パネルの画面の検査対象画素の明るさと、前記データ入力手段から入力された干渉縞の間隔データだけ前記検査対象画素から離れた位置の画素の明るさとの差分情報を求める差分処理手段と、前記差分処理手段の求めた差分情報に基づき、前記表示パネルの明るさを所定の値と比較して欠陥部を検出する欠陥検出手段と、を具備する表示パネルの欠陥検査装置であって、前記差分処理手段は、前記検査対象画素の明るさの2倍から、前記干渉縞の間隔データだけ前記検査対象画素から前後に離れた位置の画素の明るさをそれぞれ減算処理して、輝点の差分情報画像を求める輝点差分処理手段と、前記干渉縞の間隔データだけ前記検査対象画素から前後に離れた位置の画素の明るさをそれぞれ加算したものから、前記検査対象画素の明るさの2倍を減算処理して、黒点の差分情報画像を求める黒点差分処理手段と、前記輝点の差分情報画像と黒点の差分情報画像とを加算処理して、差分加算情報画像を求める差分加算処理手段と、を具備することを特徴とする表示パネルの欠陥検査装置。
IPC (3件):
G09F 9/00 352
, G01M 11/00
, G02F 1/13 101
FI (3件):
G09F 9/00 352
, G01M 11/00 T
, G02F 1/13 101
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