特許
J-GLOBAL ID:200903070832874292

光線路試験方式

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 井出 直孝 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平4-007906
公開番号(公開出願番号):特開平5-196543
出願日: 1992年01月20日
公開日(公表日): 1993年08月06日
要約:
【要約】【目的】 試験・制御装置設置ビルから他ビルへ光線路を介して心線選択装置を張り出し、分割局に成端した光ファイバケーブルの試験および監視ができるようにしシステム設備コストの低減化と、さらに近端測定不能区間長の短縮化とを図る。【構成】 試験・制御装置(TC)5が設置されたビルA2と、ユーザビル47からの加入者系光ケーブル41が成端された成端架(SF)42を含むビルB4とは、中継用光ケーブル29を介して接続され、成端架(SF)42は試験・制御装置(TC)5の制御により、中継用光ケーブル29内の試験用光ファイバと加入者系光ケーブル内の被試験光ファイバとを選択接続する張出用1×N心線選択器(ES)35を含み、この張出用1×N心線選択器(ES)35は、図外の光分岐モジュール(PM)40内の光カプラを介して折り返された試験光を遮断する手段と、遮断点において低反射させる手段とを含んでいる。
請求項(抜粋):
光ファイバに挿入された光カプラを含む光分岐モジュールと、この光分岐モジュールの近傍に配置され試験光ファイバの選択を行う第一の心線選択装置と、試験装置、この試験装置と前記第一の心線選択装置との接続を行う第二の心線選択装置および試験制御処理装置を有する試験・制御装置とを含む第一試験局を備えた光線路試験方式において、前記第一の試験局と中継用光ケーブルを介して接続され、前記光分岐モジュールと、この光分岐モジュールに近接して配置され前記第一試験局内の前記試験・制御装置の制御により試験光ファイバの選択を行う第三の心線選択装置とを含む少なくとも一つの第二試験局を備えたことを特徴とする光線路試験方式。
IPC (4件):
G01M 11/00 ,  G02B 6/00 ,  G02B 6/28 ,  H04B 10/08
FI (2件):
G02B 6/00 A ,  H04B 9/00 K

前のページに戻る