特許
J-GLOBAL ID：200903070862580137
電子部品検査装置、電子部品検査システム
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (2件)：
佐原 雅史
, 横田 一樹
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2007-022889
公開番号（公開出願番号）：特開2008-190893
出願日： 2007年02月01日
公開日（公表日）： 2008年08月21日
要約：
【課題】電子部品を圧力容器内に収容し、所定圧力且つ所定温度に保持した状態の出力を、極めて短時間に検査できる電子部品検査装置を提供する。【解決手段】電子部品Aを圧力容器に収容して密閉し、電子部品の出力端子の出力を検査する。圧力容器は、上側可動容器11と、この上側可動容器11の下側に固設される下側容器12とからなる。上側可動容器11は、容器昇降手段によって下側容器12に密着した位置から上昇するようになっている。更に、上側可動容器11が下側容器12に載置された状態で、上側可動容器11を加圧してその下端開口の密閉を確保する加圧手段を備える。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
電子部品を圧力容器に収容して密閉し、所定の検査温度に保つとともに圧力容器内に高圧気体を供給して所定圧力とし、電子部品の出力端子の出力を検査することにより電子部品を検査する電子部品検査装置において、
前記圧力容器は、上側可動容器と、前記上側可動容器の下側に固設されて該上側可動容器が下降したときに該上側可動容器の下端開口を密閉する下側容器とからなり、
前記上側可動容器を昇降自在に案内する容器案内手段と、前記上側可動容器を前記下側容器に密着した位置から上昇させる容器昇降手段と、前記上側可動容器が前記下側容器に載置されてから前記上側可動容器を加圧して前記下端開口の密閉を確保する加圧手段と、を備えることを特徴とする電子部品検査装置。
IPC (2件)：
FI (3件)：
G01R31/26 H
, G01R31/26 Z
, G01L27/00
2F055AA12
, 2F055BB20
, 2F055CC60
, 2F055DD20
, 2F055EE40
, 2F055FF11
, 2F055GG11
, 2F055HH01
, 2G003AB01
, 2G003AC03
, 2G003AD03
, 2G003AD04
, 2G003AD09
, 2G003AF02
, 2G003AF06
, 2G003AF08
, 2G003AG03
, 2G003AG11
, 2G003AH01
, 2G003AH04
, 2G003AH05
, 2G003AH08
出願人引用 (5件)
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審査官引用 (2件)
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