特許

J-GLOBAL ID：200903070864181639

画像プロセス装置監視方法

発明者： ロジャー ダブリュ ブドニック ,  ジェームス エム ペーサー ,  グル ビー ラジ ,  ラルフ エー シューメーカー ,  マイケル ジー スワールス ,  マイケル イー ビアルド
出願人/特許権者： ゼロックス コーポレイション
代理人 (1件)： 吉田 研二 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-044082
公開番号（公開出願番号）：特開平11-296027
出願日： 1999年02月23日
公開日（公表日）： 1999年10月29日
要約：

【要約】【課題】 複雑多機能化している複写機械において、帯電サブシステムを性能評価し、容易にまた自動的に検知し効率的なトラブルシューティングを実現する。【解決手段】 公称値に設定し帯電、露光、現像を行い、3種類のハーフトーンパッチ(12%、50%、87%)を生成する。これら特殊なパッチの反射率が測定される(228)。反射率RRDが120より大きく、極めて明るい応答を示す場合は(230)、電力供給等の問題があると判定される(232)。RRDが120より小さく60より大きければ(234)、ドナーロールの動作不良等の問題があると判定される(236)。RRDが60より小さく35より大きく、暗い応答を示す場合は(238)、トナー濃度の低下等の問題があると判定される(240)。最後に、RRDが35より小さければ極めて暗い応答を示し、動作不良なく現像システムが動作中であることが判定される(242)。

請求項（抜粋）：

帯電、露光、現像のサブシステムを持ち、制御システムと、現像されたテストパッチを監視するセンサシステムを有する画像プロセス装置における当該画像プロセス装置を監視する方法において、各テストパッチが公称反射率範囲を持つ複数のテストパッチを現像するステップと、前記センサシステムにより、前記各テストパッチの反射率レベルを測定するステップと、前記各テストパッチの前記反射率レベルの測定値を前記公称反射率範囲と比較するステップと、前記比較に応じて、前記帯電サブシステムの動作性を判定するステップと、を有する画像プロセス装置監視方法。

IPC (3件)：

G03G 21/00 510 ,  G03G 15/00 303 ,  G03G 15/02 103

FI (3件)：

G03G 21/00 510 ,  G03G 15/00 303 ,  G03G 15/02 103