特許

J-GLOBAL ID：200903070871717013

スペクトル画像装置及び方法

発明者： ペティピース,ケネス ジェイムズ ,  エイモス,ウィリアム ブラッドショー
出願人/特許権者： バイオ-ラッド ラボラトリーズ
代理人 (1件)： 石田 敬 (外4名)
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-527803
公開番号（公開出願番号）：特表2002-500375
出願日： 1999年01月06日
公開日（公表日）： 2002年01月08日
要約：

【要約】 スペクトル映像システムのための方法及び装置が提供される。このシステムは、サンプル上の選択された位置において、蛍光、ルミネッセンス若しくは吸収を測定するためのものである。干渉スペクトル分別器は、干渉図面を生成する。このシステムはスリット (503) で較正することができる。干渉計の経路長における大きなオフセットは、高い縞の密度の生成をもたらすことができ、それにより単色画像が生成される。中期発見器は、関心のあるエリアの位置を捜すために使われる。

請求項（抜粋）：

スペクトル画像システムの較正のための装置であって、 サンプルと、 該サンプルを第1の波長帯域内の放射で照射するための第1のソースであって、前記第1の波長帯域が、前記サンプル内の領域を励起して前記領域が第2の波長帯域内の放射光を発するようにする第1のソースと、 前記第2の波長帯域内の前記波長をスペクトル分析するための干渉計であって、該干渉計は、前記サンプルの干渉図形を生成し、前記干渉図形は、前記干渉計が透過する前記サンプルの画像に重畳される干渉計と、 第1の部分と第2の部分とを有する検出器アレイであって、前記サンプル及び該サンプルの前記干渉図形は、前記第1の部分上に画像化され、前記検出器アレイは、該アレイの各ピクセル毎の強度に対応する複数の信号を出力する検出器アレイと、 前記スペクトル画像システムの画像平面内にあるスリットと、 該スリットを少なくとも1つの所定の波長の放射で照射する第2のソースであって、前記干渉計は、前記スリットの干渉図形を生成し、前記スリットの干渉図形は、前記検出器アレイの前記第2の部分上に画像化される第2のソースと、 前記検出器アレイに結合されるプロセッサであって、該プロセッサは、前記サンプルの干渉図形の分析を実行して前記サンプルの干渉図形を色彩空間に変換し、前記プロセッサは、前記スリットの干渉図形の分析を実行して前記スリットの干渉図形を色彩空間に変換し、前記プロセッサは、前記スリットの干渉図形の前記変換を利用して前記色彩空間を較正するプロセッサとを備える、スペクトル画像システムの較正のための装置。

IPC (2件)：

G01N 21/64 ,  G01J 3/45

FI (2件)：

G01N 21/64 Z ,  G01J 3/45

Fターム (38件)：

2G020BA04 ,  2G020BA20 ,  2G020CA12 ,  2G020CB05 ,  2G020CB23 ,  2G020CB43 ,  2G020CC22 ,  2G020CC26 ,  2G020CC31 ,  2G020CC42 ,  2G020CC47 ,  2G020CC51 ,  2G020CC63 ,  2G020CD03 ,  2G020CD16 ,  2G020CD24 ,  2G020CD35 ,  2G020CD36 ,  2G020CD38 ,  2G020CD52 ,  2G020CD57 ,  2G043AA03 ,  2G043BA16 ,  2G043DA02 ,  2G043EA01 ,  2G043FA02 ,  2G043GA07 ,  2G043GB19 ,  2G043HA01 ,  2G043HA02 ,  2G043HA07 ,  2G043HA09 ,  2G043HA15 ,  2G043JA02 ,  2G043KA02 ,  2G043KA09 ,  2G043LA03 ,  2G043NA13