特許
J-GLOBAL ID：200903070973969807
液晶表示装置の検査方法
発明者：
出願人/特許権者：
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-230350
公開番号（公開出願番号）：特開平6-082817
出願日： 1992年08月28日
公開日（公表日）： 1994年03月25日
要約：
【要約】【構成】 複数の走査信号配線と画像信号配線をマトリックス状に設け、この走査信号配線と画像信号配線の各交点に画素電極を設け、この画素電極と前記画像信号配線にソース・ドレイン端子が接続されると共に前記走査信号配線にゲート端子が接続されたスイッチング用トランジスタを設ける。この複数の画像信号配線を短絡接続すると共に、複数の走査信号配線を隣接する走査信号配線同志が同じグループに入らないように複数のグループに分けて短絡接続し、この複数グループの走査信号配線に異なる走査信号を入力して検査を行う。【効果】 画素電極と前段もしくは後段の走査信号配線との間に電荷保持用の付加容量が形成された液晶表示装置でも、全点灯試験が可能となり、駆動回路を実装する前に、液晶表示装置の良否が判別できる。
請求項（抜粋）：
複数の走査信号配線と画像信号配線をマトリックス状に設け、この走査信号配線と画像信号配線の各交点に画素電極を設け、この画素電極と前記画像信号配線にソース・ドレイン端子が接続されると共に前記走査信号配線にゲート端子が接続されたスイッチング用トランジスタを設けた液晶表示装置の検査方法において、前記複数の画像信号配線を短絡接続すると共に、前記複数の走査信号配線を隣接する走査信号配線同志が同じグループに入らないように複数のグループに分けて短絡接続し、この複数グループの走査信号配線に異なる走査信号を入力して検査を行うことを特徴とする液晶表示装置の検査方法。
IPC (4件)：
G02F 1/136 500
, G01R 31/00
, G02F 1/13 101
, G09F 9/30
