特許
J-GLOBAL ID：200903070977934773
光学キュベット
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
山本 秀策
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-521369
公開番号（公開出願番号）：特表平11-500232
出願日： 1996年12月03日
公開日（公表日）： 1999年01月06日
要約：
【要約】発光ビームによるサンプル照射に応答して、サンプルからの蛍光発光を測定するための、改善された蛍光モニタリング装置が開示される。装置は、装置内のチューブホルダーの汚染によるバックグラウンド蛍光発光を実質的に減少させる、表面粗さ特性を有するサンプルチューブを用いる。また、所望の粗さ特性を生み出すために、サンプルチューブをテクスチャーすることによって、そのようなバックグラウンドを減少させる方法も開示される。
請求項（抜粋）：
発光ビームによるサンプルの照射に応答したサンプルからの蛍光発光を測定するための蛍光モニタリング装置であって、 サンプル内に励起ビームを指向させ得る励起ビーム源、 チューブを支持し得る壁部を有するチューブホルダー、 サンプルを保持するためのチューブ、および 該チューブ内のサンプルからの蛍光発光を検出し得る検出手段、を有し、 ここで、該チューブは該チューブホルダー壁部により支持されるチューブの領域内でテクスチャーされ、そして該テクスチャーされた領域は、該チューブホルダーの壁部の汚染に関連する蛍光発光に応答して該検出手段により検出されるバックグラウンド蛍光を、著しく減少させるために効果的な表面粗さおよびピーク密度により特徴づけられる、装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01N 21/03 Z
, G01N 21/64 Z
