特許

J-GLOBAL ID：200903070984391823

マトリックス支援レーザ脱離およびイオン化質量分光分析法のためのサンプルプレート

発明者： ジョセフ・エル・ディセザール
出願人/特許権者： パーキンエルマー・エルエーエス・インコーポレーテッド
代理人 (4件)： 志賀 正武 ,  渡邊 隆 ,  村山 靖彦 ,  実広 信哉
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-514247
公開番号（公開出願番号）：特表2006-525525
出願日： 2004年04月30日
公開日（公表日）： 2006年11月09日
要約：

標本の質量分光分析のためのサンプルに、電気伝導性の表面と、電気伝導性の表面に塗布されるマスクを有する基板が提供される。そのマスクは、粗い表面を用いて基板に塗布され、少なくとも1つのサンプルサイトを形成する。上記サンプルサイトは、電気伝導性の表面からなる中央部分と、前記中央部分よりも疎水性のマスクからなるマージン部分とを有する。

請求項（抜粋）：

電気伝導性の表面と、 粗い表面を用いて基板に塗布され、少なくとも1つのサンプルサイトを形成するマスクと、を有し、 前記サンプルサイトが、電気伝導性の表面からなる中央部分と、マスクからなるマージン部分であって前記中央部分よりも疎水性のマージン部分と、を有することを特徴とする標本の質量分光分析のためのサンプルプレート。

IPC (2件)：

G01N 27/62 ,  H01J 49/04

FI (3件)：

G01N27/62 V ,  H01J49/04 ,  G01N27/62 F

Fターム (10件)：

2G041AA06 ,  2G041CA01 ,  2G041DA04 ,  2G041EA12 ,  2G041FA11 ,  2G041FA12 ,  2G041GA16 ,  2G041JA03 ,  5C038EE03 ,  5C038EF17

引用特許：

出願人引用 (2件)

• 米国特許第6,287,872号明細書
  
• 米国特許第5,958,345号明細書
  

審査官引用 (1件)

• 高スループットスクリーニングアッセイ用仮想ウェル
  公報種別：公表公報   出願番号：特願2000-530310   出願人：メルクエンドカムパニーインコーポレーテッド