特許
J-GLOBAL ID：200903070986599332
自動分析装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
作田 康夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-052561
公開番号（公開出願番号）：特開2003-254979
出願日： 2002年02月28日
公開日（公表日）： 2003年09月10日
要約：
【要約】【課題】自動分析装置において、非接触攪拌を実現するための超音波発生源のもつ個々の電気的特性のばらつきによらず、人手による調整作業なしで一定の強度の超音波を発生させ、使用する超音波発生源の違いによる分析結果の差異を生じさせないことと、超音波による攪拌を行ううえで、超音波発生源の劣化等による発生超音波の強度不足の検出や、不要時の超音波出力有無の検出、および攪拌状態の良否を検出し、自動分析装置の信頼性を高める。【解決手段】超音波発生源への印加波形を検出し、検出した波形を用いて制御を行うために、超音波発生源への印加波形を検出する印加波形検出部を攪拌部に設置する。また、超音波攪拌を行ううえで、超音波の強度不足,不要時の超音波出力の有無,攪拌状態の良否を検出するためにも印加波形検出部を攪拌部に設ける。
請求項（抜粋）：
試薬と分析対象である検体を反応させて検体の成分分析行う分析部と、超音波発生源を音源として超音波を発生させる超音波発生源と、超音波発生源を駆動する駆動回路とを備えた攪拌部と、を備えた自動分析装置において、更に、超音波発生源から発生した超音波の波形を検出する波形検出部と、該波形検出部からの検出波形に基づいて、前記駆動回路を制御する制御部を備えており、該波形検出部は前記超音波発生源または前記駆動回路と一体で形成されていることを特徴とする自動分析装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01N 35/00 E
, B01F 11/02
2G058BB02
, 2G058BB09
, 2G058BB11
, 2G058BB17
, 2G058FA01
, 2G058GA03
, 2G058GB10
, 2G058GD00
, 2G058GE00
, 4G036AB22
審査官引用 (3件)
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自動分析装置
公報種別：公開公報
出願番号：特願平11-302011
出願人：株式会社日立製作所
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自動分析装置及び自動分析方法
公報種別：公開公報
出願番号：特願平11-374374
出願人：株式会社日立製作所
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自動分析装置
公報種別：公開公報
出願番号：特願2000-263926
出願人：株式会社日立製作所
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