特許
J-GLOBAL ID：200903070992382809
距離測定装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
伊藤 進
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-290136
公開番号（公開出願番号）：特開平9-126755
出願日： 1986年11月25日
公開日（公表日）： 1997年05月16日
要約：
【要約】【課題】 本発明は、測距時間を重視しながら高精度で正しいピント合わせが可能な距離測定装置を提供する。【解決手段】被写体に対し繰り返し測距用光を投射する投光手段2と、被写体からの反射光を受光して被写体距離に依存した信号を出力する受光手段5と、この受光手段出力信号を積分する積分手段19と、この積分手段の積分状態を検出し、それから上記被写体に対する撮影レンズのピント合わせ位置を決定する演算制御手段とからなる測距装置付きカメラにおいて、上記演算制御手段は、要求されるS/N比と測距時間とに応じて、上記投光手段の投光回数を選択し、この選択状態に応じて上記ピント合わせ位置設定方法を切換えて、撮影レンズのピント合わせ位置を決定する機能を有する。
請求項（抜粋）：
撮影レンズと、同一ポイントに対し繰り返し発光して、被写体に測距用光を投射する投光手段と、上記被写体からの反射信号光を受光して上記被写体までの距離に依存した信号を出力する受光手段と、上記受光手段出力に依存した信号を積分する積分手段と、上記積分手段の積分状態を検出し、それから上記被写体に対する上記撮影レンズのピント合わせ位置を決定する演算制御手段と、からなる測距装置付きカメラにおいて、上記演算制御手段は、要求されるS/N比と測距時間とに応じて、上記投光手段の投光回数を選択し、この選択状態に応じて上記ピント合わせ位置設定方法を切り換えて、上記撮影レンズのピント合わせ位置を決定する機能を有することを特徴とする距離測定装置。
IPC (3件)：
G01C 3/06
, G02B 7/32
, G02B 7/28
G01C 3/06 A
, G02B 7/11 B
, G02B 7/11 N
