特許
J-GLOBAL ID：200903071006072631
液晶デイスプレイ基板の検査方法及びそのシステム
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
井上 俊夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-019547
公開番号（公開出願番号）：特開平5-010999
出願日： 1991年01月18日
公開日（公表日）： 1993年01月19日
要約：
【要約】【目的】 液晶を封入する前にLCD(液晶ディスプレイ)基板を画素ユニットの対して非接触の状態で検査し、不良があったときにその後の工程を無駄にしないこと。【構成】 画素電極3に容量成分を介して検査電極7を対向するように配置する。そしてLCD基板6上の例えば各TFT(薄膜トランジスタ)2をマトリクス方式で選択し、選択されたTFT2のゲート電極にパルスを印加する。そして前記容量成分を介して検査電極7側に伝送されたパルスをパルス検出部10で検出し、判定部11にて検出パルスに基づき例えばそのパルスのピーク値を予め設定した設定値と比較することにより、当該画素ユニットの良否を判定する。
請求項（抜粋）：
スイッチング素子および画素電極を組み合わせた画素ユニットを多数基板上に配置し、画素電極と対向電極との間に封入される液晶の印加電圧をスイッチング素子により制御するようにした液晶ディスプレイ基板を検査する方法において、画素電極に容量成分を介して対向するように検査電極を設け、画素ユニット群の中から順次に画素ユニットを選択して当該画素ユニットについて、スイッチング素子にパルスを印加して画素電極及び容量成分を介して検査電極に伝送し、検査電極側から検出したパルスに基づいて当該画素ユニットの良否を判定することを特徴とする液晶ディスプレイ基板の検査方法。
IPC (3件)：
G01R 31/00
, G02F 1/13 101
, G02F 1/1343
