特許

J-GLOBAL ID：200903071017671375

撮像装置および露出制御方法

発明者： 森田 正彦
出願人/特許権者： キヤノン株式会社
代理人 (1件)： 大塚 康徳 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-287000
公開番号（公開出願番号）：特開2000-115629
出願日： 1998年10月08日
公開日（公表日）： 2000年04月21日
要約：

【要約】【課題】 固体撮像素子の出力を利用した自動露出制御を行う撮像装置において、長秒時露光制御を実現すること。【解決手段】 測光手段により測定した被写体輝度が第1の所定値より高い場合に、絞り値およびゲインを所定値に固定して、電荷蓄積時間を変更することにより露光量を制御し、被写体輝度が第1の所定値より低く、且つ、第1の所定値よりも値が低い第2の所定値よりも高い場合、絞り値および電荷蓄積時間を固定して、ゲインを変更することにより露光量を制御し、被写体輝度が第2の所定値より低い場合、電荷蓄積時間およびゲインを固定して、絞り値を変更することにより露光量を制御する。

請求項（抜粋）：

光量を調節するための絞り手段と、前記絞り手段を介して入力した被写体の光学像を電気信号に変換する光電変換手段と、前記光電変換手段により変換された電気信号に基づいて、被写体輝度を測定する測光手段と、前記絞り手段の開口径を制御する絞り制御手段と、前記光電変換手段から出力される電気信号の大きさを調節するための感度を制御する感度制御手段と、前記光電変換手段の電荷蓄積時間を制御する蓄積時間制御手段と、前記測光手段の測定結果に基づいて、前記絞り制御手段と、前記感度制御手段と、前記蓄積時間制御手段の少なくとも1つを制御することにより露光量を制御する露出制御手段とを有し、前記露出制御手段は、前記測光手段により測定した被写体輝度が第1の所定値より高い場合に、前記絞り手段の絞り値および前記感度制御手段の感度を所定値に固定して、前記蓄積時間制御手段の電荷蓄積時間を変更することにより露光量を制御し、被写体輝度が第1の所定値より低く、且つ、第1の所定値よりも値が低い第2の所定値よりも高い場合、前記絞り手段の絞り値および前記蓄積時間制御手段の電荷蓄積時間を固定して、前記感度制御手段の感度を変更することにより露光量を制御し、被写体輝度が第2の所定値より低い場合、前記蓄積時間制御手段の電荷蓄積時間および前記感度制御手段の感度を固定して、前記絞り手段の絞り値を変更することにより露光量を制御することを特徴とする撮像装置。

IPC (3件)：

H04N 5/238 ,  G03B 7/095 ,  H04N 5/335

FI (3件)：

H04N 5/238 Z ,  G03B 7/095 ,  H04N 5/335 Q

Fターム (37件)：

2H002AB01 ,  2H002BC07 ,  2H002CC00 ,  2H002CC01 ,  2H002CC21 ,  2H002CC31 ,  2H002CC36 ,  2H002CD13 ,  2H002DB01 ,  2H002DB06 ,  2H002DB19 ,  2H002DB21 ,  2H002FB01 ,  2H002FB03 ,  2H002FB28 ,  2H002FB51 ,  2H002FB71 ,  2H002FB84 ,  2H002GA09 ,  2H002GA26 ,  2H002GA77 ,  2H002JA07 ,  5C022AA13 ,  5C022AB03 ,  5C022AB12 ,  5C022AB17 ,  5C022AB18 ,  5C022AB20 ,  5C022AC42 ,  5C024AA01 ,  5C024BA01 ,  5C024CA17 ,  5C024CA24 ,  5C024EA02 ,  5C024FA01 ,  5C024FA11 ,  5C024HA10

引用特許：

審査官引用 (4件)

• 特開昭61-145971
  
• 特開平2-174471
  
• 特開平4-317275
  
• 特開平1-069168