特許
J-GLOBAL ID：200903071039704234
貴金属真贋検査方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
林 敬之助
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-192594
公開番号（公開出願番号）：特開平7-049317
出願日： 1993年08月03日
公開日（公表日）： 1995年02月21日
要約：
【要約】【目的】 大量な貴金属製品を、簡単な操作で迅速、正確に真贋検査をなしえる判断方法を提供することを目的とする。【構成】 X線励起源11とX線検出器14およびベルトコンベア17を有する蛍光X線検査装置において、試料15から発生する蛍光X線強度で、標準強度(本物の景品からの蛍光X線強度)と比較処理することによって、貴金属製品の真贋を判断する。【効果】 貴金属製品における組織犯罪的な偽造品に対して、簡単、迅速、正確にその真贋検査をなしえる。
請求項（抜粋）：
X線励起源とX線検出器および試料搬送系を有し、トレイ上に並べられた検査試料にX線照射し、この検査試料から発生する蛍光X線を検出することが可能であり、あらかじめ検出する目的貴金属成分を設定して、標準試料の特定X線強度IS を測定しておくことによって、検査試料の特定X線強度Iとの比率(I/IS )が1.00になることを真贋判定基準とする貴金属真贋検査方法。
引用特許：
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