特許
J-GLOBAL ID：200903071083120070
光学式変位センサ
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
石田 長七 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-263899
公開番号（公開出願番号）：特開平6-117816
出願日： 1992年10月01日
公開日（公表日）： 1994年04月28日
要約：
【要約】【目的】コネクタ不良などによる非接続状態を検出可能とする。【構成】各センサヘッドH1 ,H2 とコントローラCNTとの間にコネクタCN11,CN12,CN2 を介して電圧状態によりセンサヘッドH1 ,H2 の接続状態を示すラインを夫々設ける。これにより、センサヘッドH1 ,H2 の接続状態を示す信号をコントローラCNT側に出力することを可能とする。それらラインの電圧状態を検知してセンサヘッドH1 ,H2 の非接続状態をコントローラCNTの信号処理部1で判別する。
請求項（抜粋）：
投光素子から被測定物体に光ビームを投光すると共に、被測定物体からの反射光を位置検出素子で受光し、位置検出素子の受光面の被測定物体からの反射光による受光スポットの結像位置に応じた変位量を出力する複数のセンサヘッドと、これらセンサヘッドからの光ビームの投光制御及び夫々のセンサヘッド出力を用いた信号処理を行うコントローラとからなり、各センサヘッドがコントローラにコネクタ接続される光学式変位センサにおいて、各センサヘッドとコントローラとの間にコネクタを介して電圧状態によりセンサヘッドの接続状態を示すラインを夫々設け、それらラインの電圧状態を検知してセンサヘッドの非接続状態を判別する接続判別手段をコントローラに設けて成ることを特徴とする光学式変位センサ。
IPC (2件)：
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