特許
J-GLOBAL ID：200903071106850496
昇温脱離分析装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
山本 寿武
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-229076
公開番号（公開出願番号）：特開2003-042980
出願日： 2001年07月30日
公開日（公表日）： 2003年02月13日
要約：
【要約】【課題】 試料を均一に加熱して昇温脱離分析精度の向上を図る。【解決手段】 試料を装着する試料ホルダと、この試料ホルダを配置する試料室と、試料ホルダに装着した状態で試料室内に配置された試料を周囲から加熱する赤外線加熱炉と、加熱により試料から脱離したガスの検出する測定手段と、試料室内を真空排気する排気手段とを備えた昇温脱離分析装置において、試料ホルダ10に装着した状態で試料室内に配置される試料の周囲に、赤外線加熱炉から放出された赤外線による熱を吸収媒体を介して均熱化し二次輻射をもって試料を加熱する均熱手段(均熱基板13および均熱フード14)を設ける。この均熱手段は、モリブデン、タンタル、タングステンまたはそれらの少なくとも一つを主成分とする合金で形成してある。
請求項（抜粋）：
試料を装着する試料ホルダと、この試料ホルダを配置する試料室と、前記試料ホルダに装着した状態で前記試料室内に配置された試料を周囲から加熱する赤外線加熱炉と、加熱により試料から脱離したガスの検出する測定手段と、前記試料室内を真空排気する排気手段とを備えた昇温脱離分析装置において、前記試料ホルダに装着した状態で前記試料室内に配置される試料の周囲に、前記赤外線加熱炉から放出された赤外線による熱を吸収媒体を介して均熱化し二次輻射をもって試料を加熱する均熱手段を設けたことを特徴とする昇温脱離分析装置。
Fターム (17件)：
2G040AA02
, 2G040AB11
, 2G040BA23
, 2G040BA25
, 2G040CA02
, 2G040CB02
, 2G040CB03
, 2G040DA03
, 2G040EA06
, 2G040EA11
, 2G040EB02
, 2G040EC08
, 2G040EC09
, 2G040FA01
, 2G040GA07
, 2G040GB01
, 2G040ZA01
