特許
J-GLOBAL ID:200903071167556388

測定装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 鶴若 俊雄
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2001-363171
公開番号(公開出願番号):特開2003-161647
出願日: 2001年11月28日
公開日(公表日): 2003年06月06日
要約:
【要約】【課題】被測定物の形状、測定部位、測定順序を表示して測定者に知らせて測定を正確かつ効率よく行なうことが可能である。【解決手段】測定装置は、被測定物の形状、測定部位、測定順序のデータを記憶した記憶手段2と、この記憶手段2に記憶されたデータに基づき被測定物の形状、測定部位、測定順序を表示する表示手段4と、この表示手段4の表示に基づき測定する測定手段5と、この測定手段5から得られる測定結果データを入力するデータ入力手段3と、このデータ入力手段3から入力される測定結果データに基づき測定済み部位を表示手段4に表示させるとともに、被測定物の個体識別データと測定部位別の測定結果データを1まとまりの個体別測定結果データとして記憶手段2に記憶させる制御手段1とを有する。
請求項(抜粋):
被測定物の形状、測定部位、測定順序のデータを記憶した記憶手段と、この記憶手段に記憶されたデータに基づき被測定物の形状、測定部位、測定順序を表示する表示手段と、この表示手段の表示に基づき測定する測定手段と、この測定手段から得られる測定結果データを入力するデータ入力手段と、このデータ入力手段から入力される測定結果データに基づき測定済み部位を前記表示手段に表示させるとともに、前記被測定物の個体識別データと測定部位別の測定結果データを1まとまりの個体別測定結果データとして前記記憶手段に記憶させる制御手段とを有することを特徴とする測定装置。
IPC (2件):
G01D 7/00 ,  G01D 1/02
FI (3件):
G01D 7/00 Q ,  G01D 7/00 F ,  G01D 1/02 C
Fターム (2件):
2F041FA01 ,  2F041FA02
引用特許:
審査官引用 (3件)
  • 測定指示システム
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平6-123533   出願人:株式会社日立製作所
  • 特開平3-100408
  • 特開平2-028774

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