特許

J-GLOBAL ID：200903071184884666

電子機器の加速寿命試験方法と試験装置

発明者： 松島 寿一 ,  吉見 富 ,  塩手 啓二
出願人/特許権者： 松下電器産業株式会社
代理人 (1件)： 滝本 智之 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-094869
公開番号（公開出願番号）：特開平8-292239
出願日： 1995年04月20日
公開日（公表日）： 1996年11月05日
要約：

【要約】【目的】 ユーザーにおける実使用状態を想定した加速寿命試験方法と試験装置を提供する。【構成】 テレビ供試品37に油煙35と埃13とを付着させる工程と、温度変化サイクル加速試験工程と、湿度変化サイクル加速試験工程と、絶縁耐圧試験工程とを備えた加速寿命試験方法と試験装置。

請求項（抜粋）：

電子機器に油煙と埃とを付着させた後、温度変化サイクル加速試験と湿度変化サイクル加速試験とを加えることを特徴とする電子機器の加速寿命試験方法。

IPC (4件)：

G01R 31/30 ,  G01R 31/00 ,  G01R 31/26 ,  H04N 17/04

FI (4件)：

G01R 31/30 ,  G01R 31/00 ,  G01R 31/26 H ,  H04N 17/04 Z

引用特許：

審査官引用 (1件)

• 特開昭56-147040