特許
J-GLOBAL ID:200903071300673112

残留はんだ除去装置および残留はんだ除去方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (4件): 青木 篤 ,  鶴田 準一 ,  島田 哲郎 ,  篠崎 正海
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2007-104571
公開番号(公開出願番号):特開2008-260040
出願日: 2007年04月12日
公開日(公表日): 2008年10月30日
要約:
【課題】BGAタイプのはんだ付けができる程度まで残留はんだ除去が可能な、残留はんだ除去装置および残留はんだ除去方法を提供する。【解決手段】基板Pcb上の交換すべき電子部品のはんだを溶融して、電子部品を取外し、電子部品を取外した後の基板Pcbを加熱部2にもたらして、残留はんだ除去手段3を基板表面における残留はんだに向かって下降させて、残留はんだ除去手段3におけるはんだ吸取面材6を、残留はんだ表面に接触させて、基板両面側から加熱部2により加熱すると共に、溶融した残留はんだをはんだ吸取面材6に吸収させ、残留はんだを除去するようにする。【選択図】図1
請求項(抜粋):
良伝熱性で且つ、はんだがつきにくい板体(5)と、はんだ良付着性の素材からなるはんだ吸取面材(6)とを有する残留はんだ除去手段(3)と、 この残留はんだ除去手段(3)を残留はんだ除去対象に対して接触離脱させる駆動部(4)と、 前記残留はんだ除去手段(3)におけるはんだ吸取面材(6)を前記残留はんだ除去対象の残留はんだに接触した状態で、前記はんだ吸取面材(6)を介して残留はんだを加熱溶融する加熱部(2)と、 を具備することを特徴とする残留はんだ除去装置。
IPC (2件):
B23K 1/018 ,  B23K 1/00
FI (2件):
B23K1/018 E ,  B23K1/00 D
引用特許:
出願人引用 (1件)

前のページに戻る