特許
J-GLOBAL ID：200903071381683923
非接触型ICカードのテスト装置及び非接触型ICカード
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
田澤 博昭 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-304516
公開番号（公開出願番号）：特開平6-131510
出願日： 1992年10月19日
公開日（公表日）： 1994年05月13日
要約：
【要約】【目的】 非接触状態でカード内部の機能テストを行うと共に、効率良くカードのテストを実行できるようにする。【構成】 R/W(リーダライタ)33にデータ用のアンテナ27とリセット用のアンテナ28を設けると共に、カードの有無を判断するスイッチを設け、カードを除いたときリセットを出力する。また、テストモード時のみRAM14のデータを読み出してR/W33に送るようにした。【効果】 耐環境性に優れたカードを得ることができ、テストをより効率的に行える。
請求項（抜粋）：
非接触型ICカードに対してテストプログラムを含むデータ信号をアンテナより送信すると共に、リセット信号を送信してテストを実行するようにした非接触型ICカードのテスト装置において、リセット信号を送信するアンテナと、上記データ信号及びリセット信号を所定のタイミングで出力する入出力制御回路とを備えたことを特徴とする非接触型ICカードのテスト装置。
IPC (3件)：
G06K 17/00
, B42D 15/10 521
, G06K 19/07
