特許

J-GLOBAL ID：200903071414935079

ジッター量測定手段を有した光走査装置

発明者： 武藤 健二 ,  鈴木 雅之 ,  白岩 敬信
出願人/特許権者： キヤノン株式会社
代理人 (1件)： 高梨 幸雄
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-118395
公開番号（公開出願番号）：特開平6-027400
出願日： 1992年04月10日
公開日（公表日）： 1994年02月04日
要約：

【要約】【目的】 装置全体の小型化を図りつつジッター量を高精度に測定することができるジッター量測定手段を有した光走査装置を得ること。【構成】 画像信号に基づいて光変調された走査用の光ビームを第1導光手段31を用いて光偏向器4の偏向面4aに導光し該偏向面で偏向させた後、結像手段5を経て被走査面に入射させて光走査する際、ジッター量検出用の光ビームを第2導光手段32を用いて該光偏向器の偏向面に導光し、該偏向面で偏向させた後、該結像手段を経て被走査面近傍、もしくは該被走査面と光学的に略等価な位置に設けた反射部と非反射部とを有する光学部材10に入射させ、該反射部で反射した光束のうち該結像手段を経て該光偏向器の偏向面に隣接する偏向面で反射偏向した光束を光検出手段30で検出し、該光検出手段で得られる信号に基づいてジッター量を検出するようにしたこと。

請求項（抜粋）：

画像信号に基づいて光変調された走査用の光ビームを第1導光手段を用いて光偏向器の偏向面に導光し該偏向面で偏向させた後、結像手段を経て被走査面に入射させて光走査する際、ジッター量検出用の光ビームを第2導光手段を用いて該光偏向器の偏向面に導光し、該偏向面で偏向させた後、該結像手段を経て被走査面近傍、もしくは該被走査面と光学的に略等価な位置に設けた反射部と非反射部とを有する光学部材に入射させ、該反射部で反射した光束のうち該結像手段を経て該光偏向器の偏向面に隣接する偏向面で反射偏向した光束を光検出手段で検出し、該光検出手段で得られる信号に基づいてジッター量を検出するようにしたことを特徴とするジッター量測定手段を有した光走査装置。

IPC (4件)：

G02B 26/10 102 ,  B41J 2/44 ,  H04N 1/04 104 ,  H04N 1/23 103

引用特許：

審査官引用 (4件)

• 特開平2-106715
  
• 特開昭61-147220
  
• 特開平3-080213
  
• 特開平2-051119