特許
J-GLOBAL ID：200903071454299337
塗装品質解析装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
中村 純之助 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-098483
公開番号（公開出願番号）：特開平7-306156
出願日： 1994年05月12日
公開日（公表日）： 1995年11月21日
要約：
【要約】【目的】塗装中に迅速かつ高精度で微粒化度等の塗装品質を解析し、以後の塗装条件に直ちにフィードバックできる塗装品質解析装置を提供する。【構成】塗料を塗布した直後の未乾燥塗装表面を撮像する撮像手段100と、上記撮像手段からの画像情報を画像処理する画像処理手段101と、上記画像処理手段で処理された画像処理データに基づいて、塗装表面の凹凸波形の波長分布を算出する波長分布演算手段102と、上記波長分布演算手段で算出された波長分布に基づいて微粒化度を算出する微粒化演算手段103と、を備え、塗装表面の凹凸波形のパワースペクトルにおける長波長領域のピーク波長を求め、該長波長領域のピーク波長の値と予め実験で求めた塗料粒子径との関係から、塗料粒子径を算出し、それを微粒化度とする塗装品質解析装置。
請求項（抜粋）：
塗料を塗布した直後の未乾燥塗装表面を撮像する撮像手段と、上記撮像手段からの画像情報を画像処理する画像処理手段と、上記画像処理手段で処理された画像処理データに基づいて、塗装表面の凹凸波形の波長分布を算出する波長分布演算手段と、上記波長分布演算手段で算出された波長分布に基づいて微粒化度を算出する微粒化演算手段と、を備えたことを特徴とする塗装品質解析装置。
IPC (2件)：
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