特許
J-GLOBAL ID：200903071529905777
容器の欠陥検査方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
菊川 貞夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-041665
公開番号（公開出願番号）：特開平6-221955
出願日： 1993年01月22日
公開日（公表日）： 1994年08月12日
要約：
【要約】【目的】 シュリーレン現象を利用し、容器の溶接ミスとかピンホール等の欠陥を光学的に検査できる経済性の高い検査方法を提供する。【構成】 シュリーレン現象を観察できる光学系の集光レンズ2で集束された光束5内に密閉した被検査容器6を設置し、この被検査容器6の中に該容器6の周囲の雰囲気とは光の屈折率又は温度の異なる圧縮気体を入れ、その被検査容器6から漏れ出る気体によって発生する上記雰囲気の乱れ現象を受光部4により検出し、被検査容器6の欠陥有無を検査する。
請求項（抜粋）：
シュリーレン現象を観察できる光学系の光路中に密閉した被検査容器を設置し、この被検査容器の中に該容器の周囲の雰囲気とは光の屈折率又は温度の異なる圧縮気体を入れ、その被検査容器から漏れ出る気体によって発生する上記雰囲気の乱れ現象を受光部により検出して、上記被検査容器の欠陥を検査することを特徴とする容器の欠陥検査方法。
IPC (2件)：
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