特許
J-GLOBAL ID:200903071556084130

材料表面の水分分布測定方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 石田 敬 (外3名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平8-036481
公開番号(公開出願番号):特開平9-229850
出願日: 1996年02月23日
公開日(公表日): 1997年09月05日
要約:
【要約】【課題】 本発明は、材料表面の水分分布と材料の瑕疵との相関を把握するための材料表面の水分分布測定に関し、特に材料の劣化または凹部等の水分による影響を把握するために水分分布を連続的像として迅速に測定する材料表面の水分分布測定方法を提供する。【解決手段】 材料表面の水分分布と材料の瑕疵との相関を把握するに際し、水分分布を測定したい部位に、吸水により変色する膜を形成する工程と、測定部位を加熱し水分を脱離させる工程と、吸水した膜の変色部の分布から材料表面部の水分分布を判断する工程とからなることを特徴とし、また水分を脱離させる手段として電磁波加熱を用いることを特徴とし、さらにプラスチックプリズムの干渉縞の吸湿による歪みを測定することを特徴とする。
請求項(抜粋):
材料表面の水分分布と材料の瑕疵との相関を把握するに際し、水分分布を測定したい部位に、吸水により変色する膜を形成する工程と、測定部位を加熱し水分を脱離させる工程と、吸水した膜の変色部の分布から材料表面部の水分分布を判断する工程とからなることを特徴とする材料の瑕疵との相関を把握するための材料表面の水分分布測定方法。
引用特許:
出願人引用 (4件)
  • 特開昭59-017138
  • 特開昭59-017137
  • 特開昭56-044829
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