特許

J-GLOBAL ID：200903071556439710

粒度分布測定装置

発明者： 増田 吉通
出願人/特許権者： 日機装株式会社
代理人 (1件)： 越川 隆夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-344973
公開番号（公開出願番号）：特開2001-165845
出願日： 1999年12月03日
公開日（公表日）： 2001年06月22日
要約：

【要約】【課題】粉体試料の滑降時、該粉体試料を撮像手段の焦点深度内を通過させるよう案内することにより、粉体試料の粒子の撮像において画像がぼけるのを防止し、装置の精度及び信頼性を向上すると共に、撮像時の作業性を向上することができる粒度分布測定装置を提供する。【解決手段】ホッパー2と、粉体試料Sを一端3a側から他端3b側に搬送する振動フィーダ3と、他端3bから自由落下する粉体試料Sを案内するシュータ4と、シュータ4の案内面4eに対し略直交する方向に光軸iを有し、該光軸iと案内面4eとの交点P近傍に焦点深度mが設定されたCCDカメラ5と、撮像範囲に光を照射する照明手段6と、を具備し、シュータ4に沿って滑降する粉体試料Sの粒度分布を測定するものである。

請求項（抜粋）：

粉体試料を供給する供給手段と、該供給手段によって供給された粉体試料を一端側から他端側に搬送する搬送手段と、該搬送手段の前記他端からの粉体試料を案内するため、重力方向に対して所定角度傾斜して延設された案内手段と、該案内手段の案内面に対し略直交する方向に光軸を有し、該光軸と前記案内手段の案内面との交点近傍に焦点深度が設定された撮像手段と、該撮像手段の撮像範囲に光を照射する照明手段と、を具備し、前記案内手段に沿って滑降する粉体試料の粒度分布を測定することを特徴とする粒度分布測定装置。