特許
J-GLOBAL ID:200903071568843584

ガス発生器の漏れ試験のための方法および装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (5件): 矢野 敏雄 ,  山崎 利臣 ,  久野 琢也 ,  アインゼル・フェリックス=ラインハルト ,  ラインハルト・アインゼル
公報種別:公表公報
出願番号(国際出願番号):特願2002-519907
公開番号(公開出願番号):特表2004-506891
出願日: 2001年07月27日
公開日(公表日): 2004年03月04日
要約:
本発明は、ガス発生器(1)、特にエアバッグのためのガス発生器(1)の漏れ試験のための方法であって、ガス発生器(1)に、加圧下にあるガス混合物、特にヘリウムを充填し、ガス混合物が充填されたガス発生器(1)を、試験室(2)内に挿入し、該試験室(2)を排気し、場合によっては存在する漏れ部から流出するヘリウムを、センサを用いて確認し、センサによって生ぜしめられた信号を、ガス発生器(1)の気密性・不気密性を確認するために使用する方法に関する。特に低コストの漏れ探知という目的を達するためには、ガス発生器(1)に、ヘリウム割合が少なくとも50%のガス混合物を充填することが提案される。
請求項(抜粋):
ガス発生器(1)、特にエアバッグのためのガス発生器(1)の漏れ試験のための方法であって、ガス発生器(1)に、加圧下にあるガス混合物、特にヘリウムを充填し、ガス混合物が充填されたガス発生器(1)を、試験室(2)内に挿入し、該試験室(2)を排気し、場合によっては存在する漏れ部から流出するヘリウムを、センサを用いて確認し、センサによって生ぜしめられた信号を、ガス発生器(1)の気密性・不気密性を確認するために使用する方法において、ガス発生器(1)に、ヘリウム割合が少なくとも50%のガス混合物を充填することを特徴とする、ガス発生器の漏れ試験のための方法。
IPC (2件):
G01M3/20 ,  G01M3/32
FI (2件):
G01M3/20 B ,  G01M3/32 A
Fターム (6件):
2G067AA48 ,  2G067BB02 ,  2G067BB03 ,  2G067BB04 ,  2G067CC13 ,  2G067DD17

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