特許

J-GLOBAL ID：200903071603332695

クロムを含むニッケル基合金の粒界腐食の非破壊検査方法および検査装置

発明者： 高橋 正氣
出願人/特許権者： 科学技術振興事業団
代理人 (1件)： 西 義之
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-110706
公開番号（公開出願番号）：特開2003-302378
出願日： 2002年04月12日
公開日（公表日）： 2003年10月24日
要約：

【要約】【課題】 インコネル600合金などクロムを含有するニッケル基合金のクロム欠乏相の従来の検査方法は表面を腐食したり、破断させたりするために破壊を伴い非破壊検査の理念に反する方法である。また、表面のクロム欠乏相の情報しか得ることが出来なかった。【構成】 クロムを含むニッケル基合金の熱鋭敏化による粒界腐食を検査する方法において、該合金のクロム欠乏相のクロム濃度に対応するキュリー温度の最低から最高までの範囲内における測定温度範囲を等分した各測定温度でのテストピースの飽和磁化Ms(Ti) を測定することにより、所定の演算式によりテストピースのクロム欠乏相の平均の空間分布、すなわち結晶粒界付近のクロム欠乏相のクロム濃度別体積を定量的に測定する。

請求項（抜粋）：

クロムを含むニッケル基合金の熱鋭敏化による粒界腐食を検査する方法において、該合金のクロム欠乏相のクロム濃度に対応するキュリー温度の最低から最高までの範囲内における測定温度範囲を等分した各測定温度でのテストピースの飽和磁化Ms(Ti) を測定することにより、下記の式(1)に基づいてνkを算出することによりクロム欠乏相の体積をクロム濃度別に定量的に求めることを特徴とするクロムを含むニッケル基合金の粒界腐食の非破壊検査方法。【数1】ただし、νkはクロム濃度Ckをもつクロム欠乏相の体積、Vはテストピースの体積、kは測定条件に合わせて、測定温度Tminと測定温度Tmaxの間をn等分して決める自然数、Mk(Ti) は測定温度Tiにおけるクロム濃度Ckをもつクロム欠乏相の予め求めた下記の(a),(b),(c)のデータに基づく飽和磁化である。(a)クロム欠乏相の絶対温度0Kにおける飽和磁化とクロム濃度の関係(b)クロム欠乏相のキュリー温度とクロム濃度の関係(c)クロム欠乏相の飽和磁化と測定温度の関係

Fターム (6件)：

2G053AA12 ,  2G053AB05 ,  2G053BA02 ,  2G053BB12 ,  2G053BB17 ,  2G053DB05