特許

J-GLOBAL ID：200903071623706532

順次近似によるアナログ-デジタル変換器

発明者： エクルンド、ヤン - エリク ,  エドマン、アンデルス
出願人/特許権者： テレフオンアクチーボラゲツト エル エム エリクソン(パブル)
代理人 (1件)： 浅村 皓 (外3名)
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-545252
公開番号（公開出願番号）：特表2002-512469
出願日： 1999年04月20日
公開日（公表日）： 2002年04月23日
要約：

【要約】本発明はアナログ信号値をデジタル信号値に変換する順次近似形式のアナログ-デジタル変換の方法及び装置に関し、各検査間隔に少なくとも3つの領域を画定し、前記領域が全検査間隔をカバーし、各領域が少なくとも1つの他の領域と重なるようにすること、最後の検査間隔が予め設定した値に到達するまで、各領域を新しいより小さな検査間隔に画定すること、1つの検査間隔のN個の領域がN-1個の基準レベルを与えるように、各冗長部分に基準レベルを画定すること、各検査間隔に少なくとも1つの基準レベルを、少なくとも他の1つの基準レベルと一致するように画定し、少なくとも1つのそのように一致する基準レベルが最も近接するより大きな検査間隔の領域により形成される2つの検査間隔に属するようにすること、前記デジタル信号値を求めるため、未知のサンプルされた値を1つの検査間隔の全ての基準レベルと比較し、それにより前記検査間隔の少なくとも2つの領域を消去できるようにすること、及び、続行する順次近似の処理において、前記未知のサンプルされた値を新しいより小さな検査間隔の全ての基準レベルと比較し、比較する基準レベルの各選択は最も近接する先行工程における結果とは無関係とし、前記未知のサンプルされた値が予め設定された精度で決められるまで続行すること、の各工程を含む。

請求項（抜粋）：

アナログ信号値をデジタル信号値に変換する順次近似形式のアナログ-デジタル変換の方法であって、 各検査間隔に少なくとも3つの領域を画定し、前記領域が全検査間隔をカバーし、各領域が少なくとも1つの他の領域と重なるようにすること、 最後の検査間隔が予め設定した値に到達するまで、各領域を新しいより小さな検査間隔へ画定すること、 1つの検査間隔のN個の領域がN-1個の基準レベルを与えるように、各冗長部分に基準レベルを画定すること、 各検査間隔に少なくとも1つの基準レベルを、少なくとも1つの他の基準レベルと一致するように画定し、少なくとも1つのそのように一致する基準レベルが最も近接するより大きな検査間隔の領域により形成される2つの検査間隔に属するようにすること、 前記デジタル信号値を求めるため、未知のサンプルされた値を1つの検査間隔の全ての基準レベルと比較し、それにより前記検査間隔の少なくとも2つの領域を消去できるようにすること、及び、 続行する順次近似の処理において、前記未知のサンプルされた値を新しいより小さな検査間隔の全ての基準レベルと比較し、比較する基準レベルの各選択は最も近接する先行工程における結果とは無関係とし、前記未知のサンプルされた値が予め設定された精度で決められるまで、続行すること、 の各工程を含むアナログ-デジタル変換の方法。

Fターム (7件)：

5J022AA02 ,  5J022BA01 ,  5J022BA06 ,  5J022CA10 ,  5J022CB01 ,  5J022CB02 ,  5J022CF01