特許
J-GLOBAL ID:200903071625746647

メッキ用シードパターン及び導電膜パターンの形成方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (3件): 東田 潔 ,  山下 雅昭 ,  打揚 洋次
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2002-365141
公開番号(公開出願番号):特開2004-200288
出願日: 2002年12月17日
公開日(公表日): 2004年07月15日
要約:
【課題】ポリシランパターン形成工程を必要としないメッキ用シードパターン及び導電膜パターン形成方法の提供。【解決手段】ナノインクを用いて、インクジェット法により、基板上にシードラインを描画し、加熱により溶剤及び分散剤を蒸発させて、メッキ用シードパターンを形成する。ナノインクの粘度は3〜20cps、その濃度は0.1〜15wt%(金属超微粒子)であり、基板として、その表面が予め粗面化処理(Rmax=20〜500nm)されたものを用い、基板温度を60〜100°Cに維持しながら描画する。得られたシードパターン上に無電解メッキにより導電膜パターンを形成する。【選択図】 なし
請求項(抜粋):
Cu、Ag、Au及びPdから選ばれた金属の超微粒子、分散剤並びに有機溶媒を含むナノインクを用いて、インクジェット法により、直接、基板上にシードラインを描画し、加熱により該分散剤及び溶媒を蒸発させて、メッキ用シードパターンを形成することを特徴とするメッキ用シードパターン形成方法。
IPC (5件):
H05K3/18 ,  C23C18/18 ,  G02F1/1343 ,  H01L21/027 ,  H05K3/10
FI (6件):
H05K3/18 B ,  H05K3/18 K ,  C23C18/18 ,  G02F1/1343 ,  H05K3/10 D ,  H01L21/30 502D
Fターム (37件):
2H092MA11 ,  2H092MA12 ,  2H092MA35 ,  2H092NA27 ,  4K022AA03 ,  4K022AA04 ,  4K022AA13 ,  4K022AA32 ,  4K022AA42 ,  4K022BA01 ,  4K022BA03 ,  4K022BA08 ,  4K022BA18 ,  4K022BA35 ,  4K022CA02 ,  4K022CA09 ,  4K022CA19 ,  4K022CA20 ,  4K022CA21 ,  4K022CA24 ,  4K022CA25 ,  4K022DA01 ,  5E343AA02 ,  5E343AA26 ,  5E343BB23 ,  5E343BB24 ,  5E343BB25 ,  5E343BB71 ,  5E343BB72 ,  5E343DD12 ,  5E343DD33 ,  5E343ER21 ,  5E343FF05 ,  5E343GG01 ,  5E343GG04 ,  5E343GG11 ,  5F046AA28
引用特許:
審査官引用 (4件)
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