特許
J-GLOBAL ID:200903071625746647
メッキ用シードパターン及び導電膜パターンの形成方法
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (3件):
東田 潔
, 山下 雅昭
, 打揚 洋次
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2002-365141
公開番号(公開出願番号):特開2004-200288
出願日: 2002年12月17日
公開日(公表日): 2004年07月15日
要約:
【課題】ポリシランパターン形成工程を必要としないメッキ用シードパターン及び導電膜パターン形成方法の提供。【解決手段】ナノインクを用いて、インクジェット法により、基板上にシードラインを描画し、加熱により溶剤及び分散剤を蒸発させて、メッキ用シードパターンを形成する。ナノインクの粘度は3〜20cps、その濃度は0.1〜15wt%(金属超微粒子)であり、基板として、その表面が予め粗面化処理(Rmax=20〜500nm)されたものを用い、基板温度を60〜100°Cに維持しながら描画する。得られたシードパターン上に無電解メッキにより導電膜パターンを形成する。【選択図】 なし
請求項(抜粋):
Cu、Ag、Au及びPdから選ばれた金属の超微粒子、分散剤並びに有機溶媒を含むナノインクを用いて、インクジェット法により、直接、基板上にシードラインを描画し、加熱により該分散剤及び溶媒を蒸発させて、メッキ用シードパターンを形成することを特徴とするメッキ用シードパターン形成方法。
IPC (5件):
H05K3/18
, C23C18/18
, G02F1/1343
, H01L21/027
, H05K3/10
FI (6件):
H05K3/18 B
, H05K3/18 K
, C23C18/18
, G02F1/1343
, H05K3/10 D
, H01L21/30 502D
Fターム (37件):
2H092MA11
, 2H092MA12
, 2H092MA35
, 2H092NA27
, 4K022AA03
, 4K022AA04
, 4K022AA13
, 4K022AA32
, 4K022AA42
, 4K022BA01
, 4K022BA03
, 4K022BA08
, 4K022BA18
, 4K022BA35
, 4K022CA02
, 4K022CA09
, 4K022CA19
, 4K022CA20
, 4K022CA21
, 4K022CA24
, 4K022CA25
, 4K022DA01
, 5E343AA02
, 5E343AA26
, 5E343BB23
, 5E343BB24
, 5E343BB25
, 5E343BB71
, 5E343BB72
, 5E343DD12
, 5E343DD33
, 5E343ER21
, 5E343FF05
, 5E343GG01
, 5E343GG04
, 5E343GG11
, 5F046AA28
引用特許: