特許
J-GLOBAL ID:200903071637245457
マルチビームスキャナ及びそれを備えた画像形成装置
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (1件):
石川 泰男 (外2名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-334207
公開番号(公開出願番号):特開2001-154128
出願日: 1999年11月25日
公開日(公表日): 2001年06月08日
要約:
【要約】【課題】 複数の発光点を有するマルチビームスキャナにおいて像面湾曲収差を有する場合でも焦点が合わない走査位置を発生させることのないマルチビームスキャナを提供すること。【解決手段】 マルチビームスキャナの二つの発光点ch1,ch2に対する焦点深度をそれぞれdeとし、各発光点ch1,ch2の焦点深度方向の隔たり量をΔSとするとき、各発光点ch1,ch2に対する感光体表面位置での焦点深度deの重ね合わせの範囲de-ΔSの値が、正になるように、更に好ましくは前記重ね合わせの範囲de-ΔSから像面湾曲収差量Cfを引いた値が、正になるように、光学系の像側NAを設定する。
請求項(抜粋):
複数の発光点から光ビームを放射する発光素子と、該発光素子から放射された光ビームを、それぞれ偏向させて被照射体上の複数ラインを主走査させると共に、該被照射体上を副走査して順次照射する走査手段と、前記発光素子と前記走査手段との間及び前記走査手段と前記被照射体との間に配置された光集束手段とを備え、前記発光素子と前記光集束手段と前記走査手段とからなる光学系が像面湾曲収差を有するマルチビームスキャナであって、前記発光素子は、前記複数の発光点の位置に、深度方向の隔たりを設けており、前記光学系の像側NAは、前記複数の発光点に対応する各走査位置における焦点深度の重ね合わせの範囲が、正になるように設定されていることを特徴とするマルチビームスキャナ。
IPC (3件):
G02B 26/10
, B41J 2/44
, H04N 1/113
FI (4件):
G02B 26/10 B
, G02B 26/10 Z
, B41J 3/00 D
, H04N 1/04 104 A
Fターム (22件):
2C362AA45
, 2C362BA56
, 2C362BA58
, 2C362BA86
, 2C362BB14
, 2C362CB59
, 2C362DA04
, 2H045AA01
, 2H045BA22
, 2H045BA23
, 2H045BA32
, 2H045CB02
, 2H045DA02
, 5C072AA03
, 5C072BA15
, 5C072DA02
, 5C072HA02
, 5C072HA06
, 5C072HA13
, 5C072RA11
, 5C072XA01
, 5C072XA05
引用特許:
審査官引用 (2件)
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光ビーム走査装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平10-094512
出願人:キヤノン株式会社
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特開平2-181720
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