特許

J-GLOBAL ID：200903071649803960

端点座標検出装置、寸法測定装置、端点座標検出方法及び寸法測定方法

発明者： 後藤 新治
出願人/特許権者： ソニー株式会社
代理人 (1件)： 小池 晃 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-084753
公開番号（公開出願番号）：特開2001-264020
出願日： 2000年03月22日
公開日（公表日）： 2001年09月26日
要約：

【要約】【課題】 不定形形状に対して正確な端点位置座標を導き出して寸法測定を行う。【解決手段】 CCD撮像装置30により撮像された検出対象物10の撮像画像データが供給される画像処理装置40において、正規化相関演算によるパターンマッチングを行うことにより二次元座標上で基準端点座標(X1,Y1)を検出し、上記基準端点座標(X1,Y1)を含む第1の座標軸方向の端点検出枠を上記二次元座標上に設定し、上記第1の座標軸方向の端点検出枠を上記二次元座標上で第2の座標軸方向に移動させて、上記撮像画像データについて上記第1の座標軸方向の端点座標を検索することにより、上記第1の座標軸方向の端点の最大位置Xmaxを求め、座標(Xmax,Y1)を中心として第2の座標軸方向の端点検出枠を設定し、上記二次元座標上で上記第2の座標軸方向の端点検出枠内で上記撮像画像データについて上記第2の座標軸方向のエッジ検出を行い上記第2の座標軸方向の端点の最大位置Ytopを求め、座標(Xmax,Ytop)を検出対象の端点座標とする。

請求項（抜粋）：

検出対象物を撮像する撮像手段と、上記撮像手段により得られた上記検出対象物の撮像画像データを記憶する画像記憶手段と、上記画像記憶手段に記憶された撮像画像データに対し正規化相関演算によるパターンマッチングを行うことにより二次元座標上で基準端点座標(X1,Y1)を検出し、上記基準端点座標(X1,Y1)を含む第1の座標軸方向の端点検出枠を上記二次元座標上に設定し、上記第1の座標軸方向の端点検出枠を上記二次元座標上で第2の座標軸方向に移動させて、上記撮像画像データについて上記第1の座標軸方向の端点座標を検索することにより、上記第1の座標軸方向の端点の最大位置Xmaxを求め、座標(Xmax,Y1)を中心として第2の座標軸方向の端点検出枠を設定し、上記二次元座標上で上記第2の座標軸方向の端点検出枠内で上記撮像画像データについて上記第2の座標軸方向のエッジ検出を行い上記第2の座標軸方向の端点の最大位置Ytopを求める演算処理手段とを備え、上記演算処理手段により座標(Xmax,Ytop)を検出対象物の端点座標として検出することを特徴とする端点座標検出装置。

IPC (4件)：

G01B 11/03 ,  G06T 1/00 300 ,  G06T 7/60 150 ,  G06T 7/60

FI (4件)：

G01B 11/03 H ,  G06T 1/00 300 ,  G06T 7/60 150 J ,  G06T 7/60 150 D

Fターム (36件)：

2F065AA03 ,  2F065AA12 ,  2F065AA22 ,  2F065AA24 ,  2F065CC00 ,  2F065FF01 ,  2F065FF02 ,  2F065FF04 ,  2F065HH15 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ26 ,  2F065PP11 ,  2F065QQ03 ,  2F065QQ24 ,  2F065QQ29 ,  2F065QQ38 ,  2F065QQ42 ,  2F065RR06 ,  2F065SS04 ,  2F065SS13 ,  5B057AA01 ,  5B057BA02 ,  5B057DA03 ,  5B057DA07 ,  5B057DC03 ,  5B057DC07 ,  5B057DC16 ,  5B057DC33 ,  5L096BA03 ,  5L096CA02 ,  5L096CA14 ,  5L096FA06 ,  5L096FA09 ,  5L096FA64 ,  5L096FA69 ,  5L096JA09