特許

J-GLOBAL ID：200903071655012010

磁気記録媒体の製造方法および磁気記録媒体の製造装置

発明者： 武田 守
出願人/特許権者： ソニー株式会社
代理人 (1件)： 松隈 秀盛
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-183391
公開番号（公開出願番号）：特開2002-008225
出願日： 2000年06月19日
公開日（公表日）： 2002年01月11日
要約：

【要約】【課題】 磁気記録媒体の製造における各塗料の塗布を、塗布厚をリアルタイムに測定しながら、塗布することができるようにして、正確に所要の均一な膜厚をもって目的とする防錆層や潤滑剤層を形成して、目的の磁気記録媒体を得ることができるようにする。【解決手段】 磁性膜2が形成された非磁性支持体1に、塗料の塗布がなされる磁気記録媒体の製造方法にあって、塗料の塗布が、この塗料の塗布直後の塗膜の膜厚を測定し、この膜厚測定情報に基づく塗布量の制御を行いつつなされる。塗膜の測定は、所要の波長範囲を有する光を塗膜に照射し、こん光の塗膜表面からの反射光と塗膜を透過してこの塗膜の裏面から反射する反射光との干渉波を分光して分光反射率もしくは分光透過率を検出した分光情報を得、分光波の所定の波長範囲内に現れる分光情報のピーク波長を求めることにより塗膜の膜厚を演算して求め、この膜厚測定に基づいて塗布量の制御を行って、所定の膜厚塗布を行う。

請求項（抜粋）：

磁性膜が形成された非磁性支持体に、塗料の塗布がなされる磁気記録媒体の製造方法にあって、上記塗料の塗布が、該塗料の塗布直後の塗膜の膜厚を測定し、該膜厚測定情報に基づく塗布量の制御を行いつつなされ、上記塗膜の測定は、所要の波長範囲を有する光を上記塗膜に照射し、該光の上記塗膜表面からの反射光と上記塗膜を透過して該塗膜の裏面から反射する反射光との干渉波を分光して分光反射率もしくは分光透過率を検出した分光情報を得、上記分光波の所定の波長範囲内に現れる分光情報のピーク波長を求めることにより上記塗膜の膜厚を演算して求め、該膜厚測定に基づいて上記塗布量の制御を行って、所定の膜厚塗布を行うことを特徴とする磁気記録媒体の製造方法。

Fターム (8件)：

5D112AA05 ,  5D112AA07 ,  5D112AA22 ,  5D112BB05 ,  5D112BC01 ,  5D112BC02 ,  5D112JJ06 ,  5D112JJ09