特許

J-GLOBAL ID：200903071672820022

物理現象または化学現象の測定方法および装置

発明者： 澤田 和明 ,  冨田 勝彦 ,  中西 剛 ,  田邉 裕貴 ,  三村 享
出願人/特許権者： 株式会社堀場製作所
代理人 (1件)： 藤本 英夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-157716
公開番号（公開出願番号）：特開平10-332423
出願日： 1997年05月29日
公開日（公表日）： 1998年12月18日
要約：

【要約】【課題】 複数点の情報を同時に取り込み、蓄積、転送などを行うことにより、様々な物理現象または化学現象を容易に画像化できるようにした方法および装置を提供すること。【解決手段】 物理的または化学的な量の大きさに対応して深さを変化するように構成されたポテンシャル井戸6に電荷15を注入して、前記物理的または化学的な量をこのポテンシャル井戸の大きさに応じた電荷に変換するようにした。

請求項（抜粋）：

物理的または化学的な量の大きさに対応して深さを変化するように構成されたポテンシャル井戸に電荷を注入して、前記物理的または化学的な量をこのポテンシャル井戸の大きさに応じた電荷に変換するようにしたことを特徴とする物理現象または化学現象の測定方法。

IPC (8件)：

G01D 5/12 ,  G01B 11/00 ,  G01J 5/10 ,  G01N 27/00 ,  G01N 27/414 ,  G01N 27/416 ,  G01R 33/10 ,  H01L 21/66

FI (8件)：

G01D 5/12 Z ,  G01B 11/00 Z ,  G01J 5/10 C ,  G01N 27/00 Z ,  G01R 33/10 ,  H01L 21/66 X ,  G01N 27/30 301 X ,  G01N 27/46 353 Z

引用特許：

審査官引用 (2件)

• 特公昭61-020810
  
• 特開平3-232275