特許

J-GLOBAL ID：200903071688988713

光触媒性能測定装置

発明者： 高村 孝次
出願人/特許権者： 株式会社テクノス
代理人 (1件)： 橘 哲男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-110514
公開番号（公開出願番号）：特開2007-285742
出願日： 2006年04月13日
公開日（公表日）： 2007年11月01日
要約：

【目的】 実際に施工されている光触媒から直接その性能を計測することが可能な、比較的小型で携帯に便利で廉価な光触媒性能の測定装置の実現を目的とする。【構成】 被測定光触媒50近傍の空気中に含まれる活性ラジカルの量を電気抵抗の変化として捉える活性ラジカルセンサー10と、被測定光触媒の表面に紫外線を照射する紫外線発光ダイオード20とを具備し、被測定光触媒表面に活性ラジカルセンサー10を近接させ、被測定光触媒層52に紫外線を照射してその性能を測定することを特徴とする。【選択図】 図1

請求項（抜粋）：

被測定光触媒近傍の空気中に含まれる活性ラジカルの量を電気抵抗の変化として捉える電極手段と、 前記被測定光触媒の表面に紫外線を照射する紫外線照射手段とを具備し、 前記被測定光触媒表面に前記電極手段を近接させ、前記被測定光触媒に前記紫外線照射手段から紫外線を照射して、前記被測定面の光触媒塗布施工性能を測定することを特徴とする光触媒性能測定装置。

IPC (2件)：

G01N 27/04 ,  B01J 35/02

FI (2件)：

G01N27/04 G ,  B01J35/02 J

Fターム (14件)：

2G060AA08 ,  2G060AE40 ,  2G060AF07 ,  2G060FA09 ,  4G169AA03 ,  4G169BA04B ,  4G169BA48A ,  4G169HA20 ,  4G169HB01 ,  4G169HC14 ,  4G169HC26 ,  4G169HD10 ,  4G169HF02 ,  4G169HF04

引用特許：

出願人引用 (1件)

• 光触媒の化学物質分解性能の測定方法とその測定装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2004-090883   出願人：松下電工株式会社, 学校法人早稲田大学