特許

J-GLOBAL ID：200903071695402546

結晶の構造解析方法

発明者： 中島 紀伊知 ,  川口 悦弘
出願人/特許権者： 日本電信電話株式会社
代理人 (1件)： 雨宮 正季
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-039164
公開番号（公開出願番号）：特開2001-228103
出願日： 2000年02月17日
公開日（公表日）： 2001年08月24日
要約：

【要約】【課題】 X線回折により結晶構造評価を行う際、測定されるピークの拡がり形状が結晶中の組成が不均一に分布していることを反映して決まっているか否かを簡便に判定できる結晶の構造解析方法を提供する。【解決手段】 複数の(hkl)反射のプロファイルをX線入射角(θ)に対して対称反射配置で測定し、基準点との差Δθ(横軸)に変換する工程、前記横軸をにしたがって変換する工程、解析対象のピークトップの位置を0とする差分δAに変換する工程、該ピーク形状を比較する工程を含む。【効果】 グラフを用いた決定諭的解析を行うことにより、ピーク拡がり形状が組成の分布に起因して生じたものであるか否かの問題に対し簡便かつ明確に回答を与えることが可能となる。

請求項（抜粋）：

X線回折により結晶構造評価を行う際、測定されるピークの拡がり形状の支配要因を簡便に判定する解析手法として、相異なる指数を有する2つ以上の(hkl)反射のプロファイルをX線入射角(θ)に対して対称反射配置で測定する工程と、該各(hkl)プロファイルの中で基準となる該X線入射角(θref)の点を1つ選び、該プロファイルの横軸である該X線入射角を、新たな横軸として該基準点からのX線入射角の差分Δθ(hkl):=θ-θrefに変換する工程と、該X線入射角の差分をもとに、(ただし、a0は基準点に対応する格子定数、λはX線の波長、hは反射指数(hkl)中のh、θB,hklは該基準点に対応する(hkl)反射のブラッグ(Bragg)角度)を算出し、格子定数の次元をもつ新たな差分ΔA(hkl)を計算し、該各(hkl)プロファイルの横軸を該X線入射角の差分Δθ(hkl)から該新差分ΔA(hkl)に変換することにより横軸を再規格化し、該測定された各(hkl)プロファイルの縦軸を対数回折強度へ変換した各(hkl)プロファイルを新たに描く工程と、得られた指数(hkl)の異なる一連の該再規格化した(hkl)プロファイルから、解析の対象とするピークをそれぞれ取り出し、該解析対象ピークのピークトップの位置ΔA(hkl),0が0とする差分δA:=ΔA(hkl)-ΔA(hkl),0に横軸を該差分ΔA(hkl)から変換し、該解析対象ピークの指数(hkl)を変えた場合のピーク形状を、ピーク位置を揃えかつ重ねて表示することにより比較する工程と、該ピーク形状の比較により、該ピーク拡がり形状が指数(hkl)に依らず一致するか否かを判定することにより、該ピーク拡がり形状が組成の分布に起因して生じたものであるか否かを判定する工程からなることを特徴とするX線回折を用いた結晶の構造解析法。

Fターム (10件)：

2G001AA01 ,  2G001BA18 ,  2G001CA01 ,  2G001GA03 ,  2G001GA14 ,  2G001KA08 ,  2G001KA20 ,  2G001LA11 ,  2G001MA05 ,  2G001NA15