特許
J-GLOBAL ID：200903071702070724

三次元計測装置

発明者：
藤井 真一

藤井 真一 について

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山川 英二

山川 英二 について

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唐崎 敏彦

唐崎 敏彦 について


出願人/特許権者：
ミノルタ株式会社

ミノルタ株式会社 について


代理人 (1件)： 深見 久郎 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-013985
公開番号（公開出願番号）：特開平9-210649
出願日： 1996年01月30日
公開日（公表日）： 1997年08月12日
要約：
【要約】【課題】 人為的操作による誤差を排斥して測量精度を高めることのできる三次元計測装置を提供する。【解決手段】 被測定物を撮影して得られたステレオ画像を形成する第1画像データと第2画像データとを入力して(#1、#2)、表示された第1画像データおよび第2画像データでそれぞれ対応する点を外部操作により指定すると(#3、#5、#8、#10)、第1画像データおよび第2画像データ上の指定された点の近傍から真の対応点が検出される(#4、#6、#9、#11)。したがって計測のために真の対応点が指定されることで外部操作による指定誤差が排されて測定精度が向上する。
請求項（抜粋）：
被測定物を撮影して得られた前記被測定物のステレオ画像を形成する第1画像データと第2画像データとを入力し、前記第1画像データおよび前記第2画像データ上でそれぞれ対応する対応点の位置関係を用いて前記被測定物の三次元形状を計測する三次元計測装置であって、前記入力した第1画像データと第2画像データとを表示する表示手段と、前記表示手段により表示された前記第1画像データおよび前記第2画像データ上でそれぞれ対応する点を外部操作により指定する点指定手段と、前記第1画像データおよび前記第2画像データ上の前記点指定手段により指定された前記点の近傍から真の前記対応点を検出する対応点検出手段とを備えた、三次元計測装置。
IPC (2件)：
G01B 11/24 ,  G01C 15/00
FI (2件)：
G01B 11/24 K ,  G01C 15/00 A
引用特許：
審査官引用 (4件)
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