特許
J-GLOBAL ID：200903071763612937
溶液の質量分析に関する方法と装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
小川 勝男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-280159
公開番号（公開出願番号）：特開平9-127060
出願日： 1995年10月27日
公開日（公表日）： 1997年05月16日
要約：
【要約】【課題】差動排気部と質量分析部との間に設けたスリットによる微小液滴、中性粒子、あるいは光子のカットと、質量分析部導入直前でのイオンの小幅な偏向の組み合わせにより、シグナルを低下させることなくノイズを大幅に低減し、検出下限の指標となるシグナルのノイズに対する比を大幅に改善する方法で検出器におけるノイズの低減。【解決手段】制限板による微小液滴、中性粒子、あるいは光子のカットと、質量分析部導入直前でのイオンの小幅な偏向の組み合わせたイオン光学系【効果】シグナルを低下させることなくノイズを大幅に低減し、検出下限の指標となるシグナルのノイズに対する比を大幅に改善する。
請求項（抜粋）：
溶液試料を供給する試料供給器と,該試料溶液を霧化する霧化器と,霧化された該試料溶液中の所定の物質をイオン化し,電荷を帯びた粒子と中性粒子とからなる粒子流を形成するイオン発生器と,該粒子流を真空分析部へ導くための細孔と該細孔に電圧を印加するための電源とからなる差動排気部と,該粒子流に含まれる該電荷を帯びた粒子を集束するための集束レンズと,該電荷を帯びた粒子を偏向するための偏向器と,偏向された該電荷を帯びた粒子の物理量を測定する質量分析器からなる質量分析装置であって,該集束レンズと該質量分析器との間に該粒子流の流路を制限する制限板を設けたことを特徴とする質量分析装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01N 27/62 B
, H01J 49/28
