特許
J-GLOBAL ID：200903071790316045
サブハーネスの導通検査方法及びサブハーネス製造装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
瀧野 秀雄 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-103162
公開番号（公開出願番号）：特開2001-291568
出願日： 2000年04月05日
公開日（公表日）： 2001年10月19日
要約：
【要約】【課題】 効率よく検査及び製造することができるようにする。【解決手段】 サブハーネスの製造工程の中で、サブハーネスを構成する圧接端子5付きの電線4をその電線毎に検査する。即ち、各圧接機2、3において電線4と圧接端子5とを電気的に接続した後、電線接続部6、7を、被覆加締め部53を加締めた状態で圧接端子5に接触させながら保持し、その上で各電線接続部6、7の加締めパンチ部49、49間の導通有無を確認する。一方の加締めパンチ部49、一方の被覆加締め部53、電線4、他方の被覆加締め部53、及び他方の加締めパンチ部49と、一方、他方の加締めパンチ部49、49間とで導通検査用の回路を形成する。
請求項（抜粋）：
被覆加締め部を有する複数の端子のうちの一の端子と、サブハーネスを構成する複数の電線のうちの、供給された一の電線の一方又は他方の端末と、を接続する昇降可能な金属製の電線接続部を有し、且つ電線供給方向に各々配設される一対の接続機と、前記複数の端子を前記電線供給方向に対して直交する方向に移動させるとともに、前記一の端子を前記電線接続部の昇降位置に配置させる一対の移動手段とを備え、前記一対の接続機の各前記電線接続部には、前記被覆加締め部を加締める加締めパンチ部を設けたサブハーネス製造装置により製造されるサブハーネスの製造時における、サブハーネスの導通検査方法であって、前記一の電線の両端末に前記一の端子を各々接続する接続工程の際、前記一の電線の一方の端末側の前記被覆加締め部を加締めた一方の前記加締めパンチ部を該被覆加締め部に接触させた状態に保持するとともに、前記一の電線の他方の端末側の前記被覆加締め部を加締めた他方の前記加締めパンチ部も該被覆加締め部に接触させた状態に保持し、その上で一方の前記加締めパンチ部と他方の前記加締めパンチ部との間の導通有無を確認して、前記一の端子を各々接続した前記一の電線の良否を判定するようにしたことを特徴とするサブハーネスの導通検査方法。
IPC (3件)：
H01R 43/00
, G01R 31/02
, H01R 43/052
H01R 43/00 Z
, G01R 31/02
, H01R 43/052
2G014AA01
, 2G014AB38
, 2G014AC07
, 2G014AC12
, 5E051GB06
, 5E051GB09
, 5E063CA09
, 5E063CB19
, 5E063CB20
, 5E063CC08
