特許
J-GLOBAL ID：200903071802966342
コネクタ検査装置およびその組立方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
大和田 和美
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-014412
公開番号（公開出願番号）：特開2001-210439
出願日： 2000年01月24日
公開日（公表日）： 2001年08月03日
要約：
【要約】【課題】 接触不良の改善、ならびに誤品検出能力および作業性の向上を達成できるコネクタ検査装置を提供すること。【解決手段】 本検査装置10は、分極コネクタを構成する各サブコネクタのホルダへの装着状態を検査するものである。この装置10は、ベース部材30と、各サブコネクタの種類および形状に対応して形成されていると共にベース部材30の表面に各サブコネクタの装着位置に対応して取り付けられており、検査時に各サブコネクタに嵌め込まれる複数の検査ブロック40と、これら検査ブロック40の外壁または内壁に組込まれており、各検査ブロックを各サブコネクタに嵌め込むときに各サブコネクタの内壁または外壁に当接して作動するマイクロスイッチ50とを備えている。
請求項（抜粋）：
分極コネクタを構成する各サブコネクタの保持用ホルダへの装着状態を検査するためのものであって、分極コネクタを覆う面積を有するベース部材と、各サブコネクタの種類および形状に対応して形成されていると共に上記ベース部材の一の面に各サブコネクタの装着位置に対応して取り付けられており、検査時に各サブコネクタに嵌め込まれる複数の検査ブロックと、これら検査ブロックの外壁または内壁に組み込まれており、当該各検査ブロックを各サブコネクタに嵌め込むときに各サブコネクタの内壁または外壁に当接して作動する検出器とを含むことを特徴とするコネクタ検査装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
H01R 43/00 Z
, G01R 31/04
2G014AA07
, 2G014AA14
, 2G014AB38
, 2G014AB43
, 2G014AB60
, 5E051GB09
, 5E051GB10
