近傍電磁界分布測定装置

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：田中増顕 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-251294
公開番号（公開出願番号）：特開平11-083918
出願日： 1997年09月01日
公開日（公表日）： 1999年03月26日
要約：

【要約】【目的】曲面や凹凸のある複雑な形状の電子機器からの不要電磁波の近傍電磁界分布を測定し、不要電磁波の放射源を測定できる近傍電磁界分布測定装置を提供する。【構成】近傍電磁界分布測定装置は、不要電磁波放射源である電子機器の近傍電磁界を測定する電磁界センサと、電磁界センサと電子機器との距離を測定する距離センサと、距離センサを電子機器近傍で走査する駆動部と、電磁界センサと前記距離センサによって測定された測定値を処理する演算処理部と、演算処理部で処理した測定結果を表示する表示部とから構成されている。

請求項（抜粋）：

不要電磁波放射源である電子機器の近傍電磁界を測定する電磁界センサと、該電磁界センサと電子機器との距離を測定する距離センサと、距離センサを電子機器近傍で走査する駆動部と、前記電磁界センサと前記距離センサによって測定された測定値を処理する演算処理部と、前記演算処理部で処理した測定結果を表示する表示部とから構成されていることを特徴とする近傍電磁界分布測定装置。

引用特許：

審査官引用 (1件)

両面妨害測定装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平4-213883 出願人：松下電器産業株式会社

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