特許
J-GLOBAL ID:200903071825177647
クリーンルームブースのリーク検査システム
発明者:
,
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
絹谷 信雄
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2004-114249
公開番号(公開出願番号):特開2005-300263
出願日: 2004年04月08日
公開日(公表日): 2005年10月27日
要約:
【課題】 個々のHEPAフィルタとその周囲のリークを検出できると共にそれぞれHEPAフィルタのリークの原因等を判断できるクリーンルームブースのリーク検査システムをを提供する。【解決手段】 HEPAフィルタ11の直下に、空気を吸引するサンプリングプローブ22をX-Y軸方向にスキャンニングさせ、サンプリングプローブで、HEPAフィルタ11の上流から流したエアロゾルのリークを検出するためのクリーンルームブースのリーク検査システムにおいて、サンプリングプローブ22の近傍にHEPAフィルタ11の枠32、70とフィルタメディア30を識別する枠検出センサ64,65を設け、その枠検出センサ64,65で、フィルタメディア30と枠32、70を検出しながらスキャンニングさせて、HEPAフィルタ11毎に、リーク測定を行うと共にそのデータを保存するものである。【選択図】 図10
請求項(抜粋):
HEPAフィルタの直下に、空気を吸引するサンプリングプローブをX-Y軸方向にスキャンニングさせ、サンプリングプローブで、HEPAフィルタ上流から流したエアロゾルのリークを検出するためのクリーンルームブースのリーク検査システムにおいて、サンプリングプローブの近傍にHEPAフィルタの枠とフィルタメディアを識別する枠検出センサを設け、その枠検出センサで、フィルタメディアと枠を検出しながらスキャンニングさせて、HEPAフィルタ毎に、リーク測定を行うと共にそのデータを保存することを特徴とするクリーンルームブースのリーク検査システム。
IPC (3件):
G01N15/08
, G01M3/04
, G01M3/20
FI (3件):
G01N15/08 A
, G01M3/04 M
, G01M3/20 M
Fターム (7件):
2G067AA19
, 2G067BB12
, 2G067BB26
, 2G067BB37
, 2G067CC18
, 2G067DD17
, 2G067EE08
引用特許:
出願人引用 (2件)
-
特公平3-50210号公報
-
特許第3280280号公報
前のページに戻る