情報処理装置のテスト命令列生成方式

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：小川勝男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-150718
公開番号（公開出願番号）：特開平9-330242
出願日： 1996年06月12日
公開日（公表日）： 1997年12月22日
要約：

【要約】【課題】情報処理装置のテスト命令列生成処理において、テスト命令列の組み合わせが乱数によって決まるため、同じレジスタを変更する二つの命令A、Bの間に変更レジスタを退避または参照する命令が存在しない場合、先行命令Aで変更したレジスタを後続命令Bで上書きしてしまうため、先行命令Aで発生した不良を検出できない。【解決手段】変更レジスタテーブルを用いて、レジスタの変更及び参照が行われたかどうかを管理し、同じレジスタに対する二度目の変更を行う命令を生成する前に、変更レジスタを退避又は参照する命令を生成する。

請求項（抜粋）：

テスト対象命令の中から乱数により命令を選択し、テスト命令列を生成する情報処理装置のテスト命令列生成方法において、同じレジスタの内容を変更する2つの命令の間に変更するレジスタの退避・参照命令を組み込むことを特徴とする情報処理装置のテスト命令列生成方式。

IPC (2件)：

G06F 11/22 310 , G06F 11/22

FI (2件)：

G06F 11/22 310 B , G06F 11/22 310 U

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