特許

J-GLOBAL ID：200903071859680534

電子部品の検査装置

発明者： 中石 信一 ,  岩瀬 嘉孝
出願人/特許権者： 富士通テン株式会社
代理人 (1件)： 西教 圭一郎
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-077116
公開番号（公開出願番号）：特開平6-289100
出願日： 1993年04月02日
公開日（公表日）： 1994年10月18日
要約：

【要約】【目的】 電子部品の検査を効率良く行う。【構成】 電子部品の検査装置1は、一対のソケット2a,2bに検査用電子部品を装着し、ソケット2aで電子部品の検査が行われている間、ソケット2bの検査部品を脱着する。したがって、検査部品の交換による判定部6の待ち時間をなくし、効率の良い検査を行うことができる。

請求項（抜粋）：

検査用の電子部品に検査回路から予め定める検査信号を与え、該検査信号に応答した前記電子部品からの出力を予め定める期待値と比較することによって、電子部品が良品であるかまたは不良品であるかを検査する電子部品の検査装置において、電子部品が装着される複数のソケットと、前記各ソケットを予め定める順に切換えて検査回路に接続する切換手段と、検査すべき複数の電子部品が収納される検査部品収納部と、検査結果に基づいて良品であると判定された電子部品を収納する良品収納部と、検査結果に基づいて不良品であると判定された電子部品を収納する不良品収納部と、一方のソケットに装着されている電子部品が検査されている間に、検査すべき電子部品を検査部品収納部から他方のソケットに搬送し、該他方のソケットに装着する第1搬送手段と、検査中の電子部品の直上で待機しておき、検査の終了した電子部品を前記ソケットから取外し、前記検査結果に基づいて良品収納部または不良品収納部に搬送し、収納させる第2搬送手段とを備えることを特徴とする電子部品の検査装置。

IPC (2件)：

G01R 31/28 ,  G01R 31/26

引用特許：

審査官引用 (4件)

• 特開平1-268040
  
• 特開昭64-009378
  
• 特開平3-087674
  
• 特開平3-137580