特許

J-GLOBAL ID：200903071877914623

ピンホール検査装置

発明者： 笹本 貴朗 ,  岩崎 泰夫 ,  福島 庄次 ,  八木 一弘
出願人/特許権者： ポーラ化成工業株式会社
代理人 (1件)： 遠山 勉 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-031053
公開番号（公開出願番号）：特開平9-222378
出願日： 1996年02月19日
公開日（公表日）： 1997年08月26日
要約：

【要約】【課題】 密封包装容器のシーム部及び肩部の欠陥の有無を判断すること。【解決手段】 チューブ容器検査装置17は、チューブ容器1の外側表面と接触する第1電極27,第2電極29,第3電極31及び第4電極33と、チューブ容器1を搬送する搬送機構19,21,23,25と、電極29,31に一定値の電圧を印加する電源95と、電流変化を検出する検出制御回路97とを設けている。電極27,29,31によりシーム部5を電極29,31,31により肩部7の欠陥の有無を迅速に発見することができる。

請求項（抜粋）：

樹脂材料で形成され内部に内容物が充填された密封包装容器のピンホールの有無を検査するピンホール検査装置において、(イ)密封包装容器を搬送する搬送機構と、(ロ)この搬送機構の上流側に位置し、密封包装容器の外側表面と接触する第1電極と、(ハ)この第1電極の下流側に位置し、第1電極が密封包装容器の外側表面と接触している間に密封包装容器の外側表面と接触する第2電極と、(ニ)前記第1電極または第2電極のいずれか一方に一定値の電圧を供給する電源と、(ホ)前記第1電極及び第2電極とを結ぶ回路における電気的変化を検出する検出回路、とを備えたことを特徴とするピンホール検査装置。

IPC (2件)：

G01M 3/40 ,  G01N 27/20

FI (2件)：

G01M 3/40 A ,  G01N 27/20 A

引用特許：

審査官引用 (2件)

• 特開昭62-070725
  
• 特開昭63-150641